Способ построения кривых статистического распределения электронных ламп по параметрам

Номер патента: 146972

Автор: Князевский

ZIP архив

Текст

Класс 42 д 3 мз21 к, 135 о146972 СССР ОП САНИЕ ИЗО НТОРСКОМУ СВИД Е ГЕНИЕЛЬСТВУ Подписная группа Л 1 нязевскииРИВЪХ СТАТИСТИЧЕСКОГОННЪХ ЛАМП ПО ПАРАМЕТРА СПОСОБ ПОСТРОЕНИЯ АСПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРЗаявлено 15 июня 1959 г. за63087/26Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Минис в СССР изобретений9 за 196 пуоликовано в Бюллете Способы определения средн 1 гх характеристик и разброса параметров электронных ламп известны В известных способах используется многократное фотографирование характеристик отдельных элементов с последующим определением закона распределения.Отличие описываемого способа от известных состоит в поочередной записи параметров ламп на фотопленку с пространственным наложением импульсов последующей записи на импульсы предыдущей при условии совпадения величины параметров, соответствующих этим импульсам. Воспроизводится запись в виде нормированнои диаграммы. Это упрощает процесс исследования электронных ламп.Блок-схема устройства по описываемому способу приведена на чертеже.Устройство состоит из записывающего узла 1, регистрирующей светочувствительной пленки 2 и воспроизводящего узла 3Записывающий прибор 1 (прибор с теневой стрелкой) включается в цепь исследуемого параметра лампы. Световое пятно прибора фиксируется на фотопленке 2, укрепленной вдоль шкалы прибора. Для каждой лампы из группы, подлежащей обследованию, производится кратковременное, однократное включение светового пятна По окончании процесса записи фотопленка проявляется и переносится в воспроизводящее устройство 3. Воспроизводящий прибор вычерчивает кривую у(х) плотности записи на фотопленке по ее длине. Эта кривая является непрерывной нормированной дифференциальной кривой у(х) статистического распределения исслед,емых ламп по значениям измеряемого параметра х.Описанный способ построения статистического распределения электронных ламп по величинам электрических параметров может найти применение для контроля в процессе массового промышленного производства этих ламп,14 б 972 Предмет изобретения Составитель описания Г. А. Емельянов Редактор Н. С, Кутафина Текред А. А. Камышникова Корректор П. А. Евдокимов Подп. к пеи. 14.Иг. Формат бум. 70 Х 108/1 аЗак. 4057 Тираж 850ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытий ириМосква, Центр, М. Черкасский пер., д. О бъем 0,18зд. л. Цена 4 коп. Совете Министров СССР2/6. Типографии ЦБТ 1 Комитета, Москва, Петровка, 14. Способ построения кривых статистического распределения элекгронных ламп по параметрам, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения процесса построения, параметры ламп записывают поочередно на светочувствительную пленку с пространственным наложением импульсов последующей записи на импульсы предыдущей при совпадении значений параметров, соответствующих этим импульсам, а после проявления пленки воспроизводят закон почернения пленки по ее длине оптико-электронными средствами.

Смотреть

Заявка

631087, 15.06.1959

Князевский В. В

МПК / Метки

МПК: G01D 9/42

Метки: кривых, ламп, параметрам, построения, распределения, статистического, электронных

Опубликовано: 01.01.1962

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-146972-sposob-postroeniya-krivykh-statisticheskogo-raspredeleniya-ehlektronnykh-lamp-po-parametram.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ построения кривых статистического распределения электронных ламп по параметрам</a>

Похожие патенты