Нониусное отсчетное устройство г. ф. коскинена
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1449833
Автор: Коскинен
Текст
СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТ ИЧЕСНИХРЕСПУБЛИН 1% 111) 1)4 С 01 ВЗО р. Оптические инеиных иостроении. -с.198,СТРОИСТВО относ елью тся кизобр ения е ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТПРИ ГКНТ СССР(56) Коломийцов И.В. иприборы для измеренияугловых величин в машиМ.: Машиностроение, 19фиг.169.(57) Изобретениетельной технике. является упрощение конструкции, Нониусное отсчетное устройство содержитшкалу 1 с трансверсальной сеткой ввиде нескольких параллельиьж рядовэлементов 2 деления, выполненных ввиде отверстий, ползуна 4 с нониусомв виде параллельных рядов злемечтовделения. Установив заданный размерперемещением ползуна 4 по шкале ивведя фиксатор в заданное отверстиенониуса при совмещении его с заданнымотверстием шкалы 1, считывают показания шкалы и нониуса. 1 з.п. ф-лы,2 ил.1Ь = я(- -),и 40 ВНИИПИ Заказ 6957/41 Подписное Тираж 680 Произв,-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к техническим измерениям в машиностроении иможет быть использовано, например, винструментальном производстве и станкостроении.Цельш изобретения является упрощение конструкции усмройства,На фиг.1 показана схема нониусногоотсчетного устройства; на фиг.2 -разрез А-А ня фиг.1.Нониусное отсчетное устройство содержит шкалу 1 с трансверсальной сеткой в виде нескольких параллельныхрядов элементов 2 деления, выполненных, например, в виде сквозных отверстий 3, ползуиа 4 с нониусом ввиде параллельных рядов элементов 5деления, выполненных в ниде, например, сквозных отверстий 6, и фиксатор7. Каждый последуищий ряд шкалы 1смещен относительно предыдущего навеличину С. Параллельные ряды метокшкалы 1 и нониуса нанесены с шагомКоличество рядов элементов деления шкалы и элементов деления нониуса одинаково - Б. Количество элементов деления в одном ряду нониуса и.Интервал а между элементами деле ния в одном ряду шкалы (ценя деленияшкалы) и величина смещения С рядовшкалы связаны соотношением С = д Юи,д - интервал Ь между элементами деления в одном ряду или интервал деления нониуся выбирявт из соотношенияЬ = а ( М - -), где 1 - модуль нониу 1иУса характеризующий степень растянутости нониуся относительно шкалы. Нониусным отсчетным устройством пользуются следуищим образом,Установка на заданный размер происходит при перемещении ползуна 4 9833 2по шкале 1 и установке фиксатора 1 в заданное отверстие 6 нониуса ири совмещении его с заданным отверстием 3 шкалы, При измерении перемещают ползун 4 по шкале 1, помещают фиксатор в совпадавшие отверстия ползуня и шкалы, и считываит показания шкалы и нониуся,: 10 .Формула изобретения 1, Нониусное отсчетное устройство,содержащее шкалу с трансверсяльнойсеткой в виде нескольких параллельныхрядов элементов деления, из которыхкаждый последующий ряд смещен наодну и ту же величину относительнопредыдущего, и нониуся, о т л и ч а - 20 н щ е е с я тем, что, с целью упрощения конструкции, нониус выполненв виде параллельных рядов элементовделения, количество рядов и расстояние между рядами равно количествурядов и расстоянии между рядами шкалы, а величина С смешения рядов элементов деления шкалы и интервал Ьмежду элементами деления в одном ряду нониуса выбрани из соотношений 30 35 где а - дена деления шкалы; И - количество рядов шкалы и нониуса;и - количество элементов деленияв ряду нониуся;1 - модуль нониуся,2Устройство по п.1, о т л ич я и щ е е с я тем, что элементыделения ня шкале и нониусе выполненыв виде сквозных отверстий.
СмотретьЗаявка
3931470, 12.07.1985
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8710
КОСКИНЕН ГЕРМАН ФРАНЦЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 3/00
Метки: коскинена, нониусное, отсчетное
Опубликовано: 07.01.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1449833-noniusnoe-otschetnoe-ustrojjstvo-g-f-koskinena.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Нониусное отсчетное устройство г. ф. коскинена</a>
Предыдущий патент: Устройство для определения межпромывочного периода парогенератора
Следующий патент: Устройство для контроля диаметров отверстий
Случайный патент: Способ получения полупроводниковых эмиттерных сплавов