Способ измерения углового положения детали

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК д 4 С 01 В 11/2 ТЕЛЬСТВУ К АВТОРСКОМ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(54) СПОСОБ ИЗИЕРЕНИЯ УГЛОВОГО ПОЛОЖЕНИЯ ДЕТАЛИ(57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цельюизобретения является обеспечениевозможности измерения угловогоположения детали со сквозным отверстием, протяженность которого во ЯО 1425438 . А 1 много раз превышает размер его поперечного сечения, Поверхность деталис отверстием освещают двумя точечнымиисточниками света, расположеннымисимметрично относительно базовой осив плоскости измерения, проходящимичерез данную ось. Угловое положениедетали с отверстием определяют вплоскости, расположенной за деталью,по величине несимметричности распределения полей освещенности, образованных лучами, напрямую прошедшимичерез отверстие, относительно полейосвещенности, образованныхлучами,отраженными от внутренней поверхностиотверстия.1425438 дНИИПИ Заказ 4756/35 Тираж 680 ПодписноеПроизв.-полигр. пр-тие г. Ужгород, ул. Проектная, 4 И зобретение относится к контрольно-измерительной технике и может бытьиспользовано для определения углового положения детали со сквозным от 5верстием.Цель изобретения - обеспечение(возможности измерения углового поло"жения детали со сквозным отверстием,протяженность которого во много раэпревышает размер его поперечногосечения.Способ заключается в следующем,Поверхность детали освещают с поощью двух идентичных точечных источ иков света, расположенных симметричНо относительно базовой оси в плоскости измерения, проходящей через базоую ось й геометрические центры исночников. Расстояния между источника и светаа также от источников доповерхности детали выбирают. такимрбразом, чтобы во всем диапазоне изМерения часть лучей от каждого источника напрямую проходила через 25отверстие. По несимметричности распределения освещенности за деталью вплоскости анализа, перпендикулярнойбазовой оси, определяют угловое положение детали, 30Распределение освещенности в плоскости анализа создается пучками светаКак прошедшими отверстие напрямую,так и отраженными от боковой поверхНости отверстия,При совпадении оси отверстия сбазовой осью распределение освещенНости будет симметричным относительногочки пересечения плоскости анализа сбазовой осью. Расстояния между гранидами полей освещенности, образованныхлучами, прошедшими отверстие напрямую, и лучами, отраженными от внутренней поверхности отверстия, изме .ренные вдоль линии пересечения плоскости анализа с плоскостью измеренияс обеих сторон от точки пересеченияс базовой осью, будут одинаковыми.При изменении положения оси отвер -стия относительно базовой оси в50 плоскости измерения симметрияполей освещенности нарушается, При этом для конкретной конструкции устройства, реализующего предлагаемый способ измерения, и для известных параметров отверстия детали и положения оси вращения детали величина несимметричности полей освещенности однозначно связана с угловым положением оси отверстия и, следовательно, с угловым положением самой де-:1. тали.Сравнение расстояний между границами полей освещенности, образованных лучами, напрямую прошедшими отверстие, и лучами, отраженными от внутренней поверхности отверстия и расположенными с обеих сторон от точки пересечения базовой оси с плоскостью анализа, позволяет определить угловое положение детали с отверстием. Формула изобретения Способ измерения углового положения детали с отверстием, заключающий . ся в том, что освещают поверхность детали первым точечным источником света и анализируют распределение освещенности в плоскости за отверстием, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью обеспечения возможности измерения углового положения детали со сквозным отверстием, протяженность которого превышает размер поперечного сечения отверстия, деталь дополнительно освещают вторым точечным источником света, расположенным симметрично первому относительно базовой оси, а угловое положение детали в плоскости измерения, проходящей через базовую ось и геометрические центры источников света, определяют в плоскости, перпендикулярной базовой линии, вдоль линии пересечения данной плоскости с плоскостью измерения по величине несимметричности распределения полей освещенности, образованных лучами, напрямую прошедшими через отверстие, относительно полей освещенности, образованных лучами, отраженными от внутренней поверхности отверстия