Способ анализа газов в металле и металлокерамике
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
138767 Класс 42, 4 з21 И, 19 оз 1, ДПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Лодписнал группа Л 3 173 Лакомский и Н. И. Выхрестю ПОСОБ АНАЛИЗА ГАЗОВ В МЕТАЛЛЕ И МЕТАЛЛОКЕРАМИК влено 6 января 1961 г. заоткрытий пр692222/22 в Комитет по лелам изои Совете Министров СССРОпубликовано в Бюллетене изобретений11 за 1961 г ении и Известны способы определения газов в металлах методом вакуум- плавления образцов, в основе которого лежит принцип извлечения газов с последующим анализом их различными способами.Особенность предлагаемого способа заключается в том, что он позволяет определять содержание газов в локальной зоне образца, выбираемой фокусированным в точку пучком электронов с помощью масс- спекгрометрического анализа.Для осуществления способа анализа газов в металлах и металлокерамике используют масс-спектрометр и электронную пушку с фокусиро. ванным пучком электронов.Схема расстановки оборудования приведена на чертеже.На полированный металлический образец 1, помещенный в полости электронной пушки 2, подается строго дозированный по времени и мощности импульс потока электронов, сфокусированного в точке, При этом водород выделяется из металла расплавленного участка, и давление в электронной пушке, измеряемое вакуумметром 3, повышается. За счет разности давления в полости электронной пушки 2 и в камере анализатора 4 масс-спектрометра газ через открытый кран 5 впуска поступает в источник б ионов. В зависимости от количества газов в образце анализ можно производить при открытом или закрытом кране 7 откачки из камеры анализатора. Газы из полости электронной пушки и вакуумпроводов удаляются через кран 8,После анализа газа в одной точке пучок электронов перемешается в другую точку, и процесс повторяется по мере необходимости.138767 Предмет изобретения Рсдактор Н. Л. Леонтьева Техред Т. П, Курилко Корректор Н. М. Марчеи 1:,о Подп. к печ. 10 Х 11-61 г Зак, 5701 Формат бум. 70)(108/и Тираж 800 ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/бОбъем 0,18 изд, л. Цена 4 ко,Типография ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР, Москва, Пегровка, 4.Способ анализа газов в металле и металлокерамике с применением вакуум-плавления, отл и ч а 1 ощийся тем, что, расплавление локаль; ных участков металла производится сфокусированным в точке пучком электронов, а определение выделившихся из расплавленного участка га. зов осуществляется масс-спектрометром,
СмотретьЗаявка
692222, 06.01.1961
Выхресткж Н. И, Лакомский В. И
МПК / Метки
МПК: G01N 33/20
Метки: анализа, газов, металле, металлокерамике
Опубликовано: 01.01.1961
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-138767-sposob-analiza-gazov-v-metalle-i-metallokeramike.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ анализа газов в металле и металлокерамике</a>
Устройство для введения газа в анализатор масс-спектрометра
Номер патента: 672557
Опубликовано: 05.07.1979
Авторы: Иванова, Пудов, Сурков
МПК: G01N 27/62
Метки: анализатор, введения, газа, масс-спектрометра
...диаметре пор 0,3-3 мк, аотношение диаметра капилляра вяэкостного натекателя к .его длине10-4 10 ЪС целью расширения диапазона измеряемых давлений устройство содержитнесколько одинаковых систем, содержащих укаэанные натекатели, Натека"тели и капилляры рассчитываются таким образом, чтобы при давленияхв анализируемом газе от несколькихмиллиметров до десятков атмосферобеспечивался молекулярный режимтечения газа на всех иатекателях,эа исключением первого, где приб наших давлениях существует "молекулярно-вяэкостный режим, и вязкостный э капиллярах, сообщающих трубопровод с вакуумированиыми объемами,Поскольку при молекулярном натекании количество проходящего газай пропорционально давлению Р на входе в натекатель, а при визкостном -...
Способ измерения длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электронно-лучевых трубок
Номер патента: 1267511
Опубликовано: 30.10.1986
Автор: Рубочкин
МПК: H01J 31/00
Метки: длительности, переходных, процессов, пучками, системах, трубок, электронно-лучевых, электронными
...соответствующих импульсами ИП 1 и ИП 2 на экране ЭЛТ. Регулированием амплитуды (и полярности) сигнала .Ор устанавливают светящиеся точки на заданный размер радиального (диаметрального) отклонения. Регули,ровками усилителя-формирователя 6 изображение светящихся точек фокусируется, Над светящейся точкой, соответствующей импульсу ИП 2, устанавливается преобразователь 8 иэображе ния в электрические сигналы (например, ПЗС-преобразователь изображения),Переключателем 24 снимают сигналустановки "0" со входов счетчиков11 и 17, триггера 15, блоков 16 и 22 совпадений, блока 9 считывания сигналов преобразователя 8 и формирователя 20 импульсов. При этом на счетныевходы блока 9 и счетчика 11 через второй блок 22 совпадений разрешается прохождение...
Устройство для ввода газа в анализатор масс-спектрометра
Номер патента: 1336136
Опубликовано: 07.09.1987
Авторы: Иванова, Пудов, Сурков
МПК: H01J 49/26
Метки: анализатор, ввода, газа, масс-спектрометра
...временныехарактеристики предлагаемой системыввоДа определяются следующими расчетами,Расчет коэффициента обогащения.Коэффициент обогащения определяется отношением концентраций нейтральных компонент в газе, прошедшем систему ввода и поступившем в нее. Количество газа Я, поступающего в устройство ввода через натекатель с проводимостью Н, из среды с давлениемР , равно01 РоНКоличество газа Я 2, проходящегочерез ограничительный канал 8 с нро"водимостью 02где П - проведимость прямого ка пилляра.Количество газа Я , проходящего по прямому капилляру поглотителя 9ПЭ ЯЭ - О,Н +П 2 Э Количество газа Я на выходе изФпоглотителя СО 2О 2О=ЯП +Нгде С н - концентрация нейтральных газов в смеси.Полное количество газа, поступающего в смесительную камеру,...
Устройство для управления электронным лучом электронно лучевой трубки
Номер патента: 1631625
Опубликовано: 28.02.1991
Авторы: Громов, Карасев, Мартынов, Сочнева
МПК: H01J 29/68
Метки: лучевой, лучом, трубки, электронно, электронным
...На этапе предварительной настройки производится размагничивание колец путем подачи в обмотки колец импульсов тока переменной полярности и постепенно убывающей амплитуды от блока 7. Затем с помощью центрирующего устройства ЭЛТ добиваются получения неискаженного расфокусирован.ного пятна на экране ЭЛТ. К фокусирующей системе подключен источник переменного, тока 50 Гц.Одну пару колец от другой устанавливают на расстояниис/2, гдед-внутренний диаметр кольца,мм. Производят поочередное для каждого кольца последовательное намагничивание до насыщения и размагничивание разнополярными импульсами постепенно убывающей амплитуды на такую величину, чтобы на экране ЭЛТ 6 появилось пятно с ореолом в форме серпа и четко сфокусированными двумя...
Прибор для анализа газов
Номер патента: 71054
Опубликовано: 01.01.1948
Автор: Дагаев
МПК: G01N 27/70
...а стрелкой Б в направлен выхода.Приоор состоит из газор 13 р 51 дцой трубки с рядом электродов 1 - 14, генератора высокой частоты, нсточш 1 ка . сстоянцого тока и измерительного прибора 1 э т 1 гпа гальванометра с электронным усилителем или без него, в зависимост;1 от концецтрацци анализируемой составляющей газовой смеси. Если частота и потенциал генератора высокой частоты подобраны так, чтобы полупериод частоты соответствовал времени пролета ионов выделяемой составляющей смеси газа, зависящему от массы ц заряд" этих ионов то последние подлетят к следующему электроду 1 сетке 1 в момент исчезновения потенциала ца цем и появления отрицательного потенциала на следующем электроде. При условии расположеш 1 я электродов на расст 05 ищях,...
Предыдущий патент: Устройство акуст-1 для автоматического
Следующий патент: Аналитические аэрозольные фильтры (афа)
Случайный патент: Способ переработки отходов бариевых электролитов в виде корок и настылей