Устройство для оптико-электронной дефектоскопии

,13577 119 4 С 01 В 2130 САНИЕ ИЭОБРЕТЕ выГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ(56) Пасечник В.С. Разработка и ис следования различных оптико-электрон ных систем контроля дефектов деталей Тезисы докладов 1-й Всесоюзной межвузовской научно-технической конференции Оптические и радиоволновые методы и средства неразрушающего кон троля качества материалов и изделий" Фергана, 1981, ч. 1, с. 243-246, (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ(57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть применено для обнаружения дефектов поверхности различных объек тов. Целью изобретения является повыщение стабильности измерений за счетсовмещения одним элементом функцийизлучения и приема. В устройстве коммутатор 5, управляемый генератором 7тактовых импульсов,. осуществляет последовательное подключение каждогоиз светодиодов 2 к генератору 8 тока, В результате световой поток,ходящий в виде узкого пучка из гнезд3, обегает поверхность 4 контролируемого объекта вдоль образующей.Коммутатор 6, управляемый от тогоже генератора 7, подключает светодиод, предшествующий или последующийпо отношению к излучающему, к блокамобработки 9 и регистрации 10. Применение ИК светодиодов позволяет увеличить помехоустойчивость устройствавследствие малой чувствительностиИК диодов к видимому излучению, 1 ил.1357714 25 30 35 40 45 50 ВНИИПИ Заказ 5986/37 Тираж 677 Подписное Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть применено для обнаружения дефектов поверхности разнообразных объектов.Целью изобретения является повышение стабильности измерений.На чертеже приведена структурная схема предлагаемого устройства.Устройство содержит светодиодную линейную матрицу 1 из светодиодов 2, укрепленных в гнездах 3. Матрица 1 расположена вблизи от поверхности 4 контролируемого объекта вдоль его образующей. Каждый из светодиодов 2 соединен с коммутаторами 5 и 6, управляемыми генератором 7 тактовых импульсов. С коммутатором 5 соединен генератор 8 тока, при подключении к которому поочередно каждого из светодиодов 2 вырабатываются импульсы излучения, освещающие последовательно дискретные участки контролируемого объекта 4 вдоль образующей, С коммутатором 6 соединен блок 9 обработки электрических сигналов, вырабатываемых светодиодами 2, работающими при отключении их от генератора 8 тока в фотогальваническом режиме, В данном случае светодиоды являются приемниками излучения выпускаемого соседними светодиодами и отраженного от поверхности объекта. Блок 9 обработки включает усилитель фототока, элементы фильтрации и сумматор (не показаны). С выхода блока 9 обработки сигнал поступает в блок 10 регистрации, обеспечивающий удобное для восприятия представление информации о дефектности изделия.Устройство работает следующим образом.Коммутатор 5, управляемый генератором 7 тактовых импульсов, осуществляет последовательное подключение каждого из светодиодов 2 к генератору 8 тока. В результате световой поток, выходящий в виде узкого пучка из гнезд 3, обегает поверхность 4 контролируемого объекта вдоль образующей. Коммутатор 6, управляемый от того же генератора 7, подключает светодиод, предшествующий или последующий по отношению к излучающему,к блокам 9 и 10 обработки и регистрации соответственно,При последовательном переключении5всех светодиодов в линейке получаютинформацию о качестве объекта вдольодной строки, При повороте объектана небольшой угол циклы переключенияповторяются, что дает возможностьсудить о качестве изготовления объекта в целом.В основу работы устройства положен тот факт, что при облучении одного светодиода излучением другогоидентичного светодиода через которыйпротекает прямой ток, в первом светодиоде возникает фотоЭДС значительной величины. Это в наибольшей сте"пени относится к инфракрасным свето. диодам, например АЛ 107,Таким образом, в измерительной головке дефектоскопа функции излучения и приема осуществляют одни и те же элементы - светодиоды. Это позволяет существенно упростить устройство,Кроме того, применение ИК светодиодов в качестве оптопары позволяет увеличить помехоустойчивость устройства вследствие малой чувствительности ИК диодов к видимому излучению.,Формула изобретения Устройство для оптико-электронной дефектоскопии, содержащее генератор тока, коммутатор, соединенный с его выходом, светодиодную линейную матрицу, генератор тактовых импульсов, подключенный к управляющему входу коммутатора, и блоки обработкИсигнала и регистрации, соединенныепоследовательно, о т л и ч а ю щ е -е с я тем, что, с целью повышениястабильности измерений, оно снабженовторым коммутатором, К-вход которогосоединен с (К) выходом первого коммутатора и с выходом К-го светодиодалинейной матрицЫ, вход блока обработки сигнала соединен с выходом второго коммутатора, а генератор тактовыхимпульсов подключен также к управляющему входу второго коммутатора.