Способ настройки электростатической отклоняющей системы в отпаянном электронно-лучевом приборе

Номер патента: 1355038

Автор: Фельдман

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 1)4 Н 01 Л 9/44 ГОСУДАРСТВ ПО ДЕЛАМ И ЫЙ КОМИТЕТ СССРРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ ИЗОБР ИДЕТЕЛЬСТ Бюл.4" 21 Новыеронно-аптиВ сб.: Х 1 Уо высокосконике. - М оптические д. М.М.Бут187.(57) И австро ющей с лучево источи обретение о ки электрос стемы в отп приборе. У к 1 света,носится к способ атической отклон янном электронно тройство содержи ест-обьект 2,Лв ОПИСАНИЕ . К АВТОРСКОМУ СВ(56) Брюхневич Г.И. и двремяанализирующие элекческие преобразователи.международный конгрессростной фотографии и фо1980, с170-171.Каскадные электроннопреобразователиПод рлова. - М. Мир, 1965,(54) СПОСОВ НАСТРОЙКИ ЭЛЕКТРОСТАТИЧЕСКОЙ ОТКЛОНЯЮЩЕЙ СИСТЕМЫ В ОТПАЯННОМ ЭЛЕКТРОННО-,ЛУЧЕВОМ ПРИБОРЕ входную оптическую систему 3, электронно-оптический преобразователь 4,включающий фотокатод 5, фокусирующийэлектрод 6, анод 7, затворные отклоняющие пластины (ОП) 8, затворнуюдиафрагму 9, компенсирующие ОП 10регулируемой чувствительности с механизмом 11 регулирования и люминесцентный экран 12, микроскоп 14. Назатворную и компенсирующие ОП 8, 10,включенные крест-накрест, подаютпериодические сигналь 1, одновременнопри помощи механизма 11 регулированияизменяют расстояние между компенсирующими ОП 1 О до тех пор,пЬка чувствительности обоих пар ОП станут рав"ными. На экране будет наблюдатьсячеткое иэображение. Изобретение по"вышает точность настройки эа счетобеспечения возможности выравниваниячувствительности двух пар ОП и сохранения ее в сверхвысокочастотномдиапазоне управляющих сигналов. 1 иФормула н з о б р е т е н и яСпособ настройки электростатической отклоняющей системы в отпаянном электронно-лучевом приборе, содержащем две пары отклоняющих систем, одна из которых соединена с механизмом регулирования чувствительности, включающий подачу на пары отклоняющих пластин противофазных напряжений, контроль размеров характерного элемента изображения на люминесцентном экране и регулирование чувствительности одной из пар отклоняющих пластин до получения наибольшей степени фокусировки элемента изображения, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности настройки за счет обеспечения воэможности выравнивания чувствительности пар пластин и сохранения ее в СВЧ-диапазоне управляющих сигналов, на отклоняющие пластины подают периодические напряжения одинаковой амплитуды не менее величины где Ы - минимальный размер разрешимого элемента изображенияна экра.ие, мм;ДЕ - разность исходных чувствительностей пар отклоняющихпластик, мм/В,и с частотой не менее величины, прикоторой на люминесцентном экраненаблюдается немелькающее изображениехарактерного элемента. 1 1355038Изобретение относится к электронной технике, в частности к системамрегистрации быстропротекающих процессов с использованием электронно-лучевых приборов (ЗЛП), например при по 5мощи времяанализирующих электроннооптических преобразователей (ЭОП).Целью изобретения является повышение точности настройки за счет10обеспечения возможности выравниваниячувствительности двух пар пластин исохранения ее в СВЧ-диапазоне управляющих сигналов.На чертеже показана схема ЭОП,Схема содержит источник света 1,тест-объект 2, входную оптическуюсистему 3, ЗОП 4, включающий Фото.катод 5, Фокусирующий электрод 6,анод 7, затворные отклоняющие плас, тины 8, затворную диафрагму 9, компенсирующие отклоняющие пластинырегулируемой чувствительности 10 смеханизмом регулирования 11 и люминесцентный экран 12. Позицией 13 обозбначен электронный луч, позицией 14 микроскоп,Изображение тест-объекта 2, в качестве которого может быть использована узкая щель 50-100 мкм илистандартная оптическая мира, подсвечивается источником света 1 и проектируется на Фотокатод 5 при помощивходной оптической системы 3, Сформированное под дейстием света элек 35тронное изображение фокусируется наэкране 12 при помощи электродов 6,7.На отклоняющие пластины 8, 10, включенные крест-накрест, поцают периодические сигналы У Г(ю 1). Изображение,тест-объекта, наблюдаемое наэкране 12 при помощи микроскопа 14,будет размыто из-за колебаний с час 1тотой ы и амплитудой А = Б о 1 Е - с,1,гдеЕ - чувствительности парпластин. Одновременно при помощимеханизма регулирования 11 изменяютрасстояние между отклоняющими пластинами 10 до тех пор, пока , не становится равной Е, т.е. А=О. На экране будет наблюдаться четкое изображение. Поскольку электронно-опти"ческая система имеет предел пространственного разрешения И , то колебания с АК будут неразличимы, поэтому максимальная амплитуда напряжения Б должна обеспечить перемещениеоизображения на экране по крайней мере на один разрешимый элемент, т,е. должно выполняться И1) 7оДля того, чтобы на экране электронно-лучевого прибора в момент настройки не наблюдалось мельканий изображения, желательно частоту колебаний, электрического сигнала делать большей 40 - 50 Гц. При этом можно использовать переменное напряжение, изменяющееся по гармоническому закону.Способ обеспечивает настройку так" же при частотах до 1 ГГц и более,Способ был опробован при настройке импульсного ЗОП, для которого Е, й 0,05 мм/В, Е с 0,055 мм/В, И 0,1 мм Ц, = 2 х 10 В, Частота колебаний составляла 50 Гц. Настроенный таким способом ЭОП обеспечил частоту кадрирования до ЯГГц.

Смотреть

Заявка

3989515, 16.12.1985

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8584

ФЕЛЬДМАН Г. Г

МПК / Метки

МПК: H01J 9/44

Метки: настройки, отклоняющей, отпаянном, приборе, системы, электронно-лучевом, электростатической

Опубликовано: 30.03.1989

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1355038-sposob-nastrojjki-ehlektrostaticheskojj-otklonyayushhejj-sistemy-v-otpayannom-ehlektronno-luchevom-pribore.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ настройки электростатической отклоняющей системы в отпаянном электронно-лучевом приборе</a>

Похожие патенты