Способ испытания образцов монокристаллов в условиях одноосного сжатия

Номер патента: 1259138

Авторы: Брандт, Лавренюк, Минина, Савин

ZIP архив

Текст

СОЮЗ ССжТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 91 (И 01 И 3 О САНИЕ И ЛЬСТВ 5 носова Минина,Исслед о сжатия агнитной ТФ, 1959 ание оспр ство СССР(57) Изобрет тельной техн исследования механизма пл ографичес тноситель ких пл но дей ет жес изасбразцаые дефо пыт ние относится к и ике, а именно к сп прочностных свойс стических деформа котора а рмации я относительно и ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТ АВТОРСКОМУ СВИДЕ(56) Брандт Н.Б. и дрвлияния одностороннегквантовые осцилляции мимчивости висмута. ЖЭвып.2, с,389,Авторское свидетелВ 475534, кл, С 01 М СПЫТАНИЯ ОБРАЗЦОВ МОНОУСЛОВИЯХ ОДНООСНОГО монокристаллов в условиях одноосногосжатия. Целью изобретения являетсярасширение диапазона упругих деформаций, Испытуемый образец в виде цилин-.дра или прямоугольного параллелепипеда размещают внутри упругого элемента, фиксируют по торцам с помощьюклея или лайки и нагружают путем деформирования упругого элемента. Приэтом образец ориентируют таким образом, что сжимающее усилие направленовдоль его кристаллографических плоскостей наилегчайшего скольжения.Высокий уровень упругих деформациймонокристалла обеспечивается за счет ориентации кристал костей скольжения ствия осевого усил кой фиксации торцо предотвращает сдви плоскостей скольжедруг друга. 2 ил,1259138 Изобретение относится к испытательной технике, я именно к способамисследования прочностных свойств имеханизма пластической деформации монокристяллон в условиях одноосного 5сжатия,Цель изобретения - расширениедиапазона упругих деформаций.На Фиг.1 изображена схема, поясняющая способ испытания; на фиг,2сечение А-А на Фиг. (ориентацияплоскостей наилегчайшего скольжения),Способ испытания образцов моно- кристаллов в условиях одноосного15 сжатия осуществляют следующим образом,Испытуемый образец 1 в видецилиндра или прямоугольного параллелепипеда размещают внутри упругого элемента 2 в ниде кольца или скобы 20 и с помощью клея 3 или пайки фиксируют торцы образца 1 относительно внутренней поверхности упругого элемента 2, Путем деформирования упругого элемента 2 нагружают образец 1 сжимающим 25 усилием. При этом образец 1 ориентируют в упругом элементе 2 так, что сжимающее усилие направлено вдоль его кристаллографических плоскостей 4 наилегчайшего скольжения. ЭО Способ испытания образцов монокристаллов в условиях одноосного сжатия, заключающийся в том что испытуемый образец размещают внутри упругого элемента, Фиксируют с помощью клея или пайки и нагружают путем деформирования упругого элемента, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения диапазона упругих деформаций, используют образец в виде цилиндра или прямоугольного параллелепипеда, который фиксируют по торцам и ориентируют так, что сжимающее усилие направлено вдоль его кристаллографических плоскостей наилегчайшего скольжения. Э 5 40 Заказ 5113/4 краж 7 Подпис ное изв,-полигр. пр-тие, г. Ужгород Проектная,Преждевременное появление пластических деформаций в испытуемом образце сдерживается эа счет обеспечения ориентации кристаллографических плоскостей скольжения относительно действия осевого усилия и эа счет жесткой Фиксации торцов образца, которое предотвращает сдвиговые деформации плоскостей скольжения относительно друг друга. П р и м е р. Изготовленные монокристаллические образцы иэ висмута ввиде прямоугольных параллелепипедовразмерами 0,7 0,7 3 мм размещаютвнутри упругого элемента в виде кольца и с помощью клея фиксируют торцыобразцов в упругом элементе так,что главная плоскость скольжениянаправлена вдоль действия сжимающегоусилия. Путем деформирования упругого элемента нагружают образец усилиями осевого сжатия, в процессекоторого измеряют величину упругихдеформаций образца с помощью рентгеновского дефрактометра. Величинаупругих деформаций, при которых полностью сохраняется совершенство монокристалла висмута, составляет 0,42,что более чем на порядок выше величины деформации, получаемой при испытании образцов висмута известными способами,Формула изобретения

Смотреть

Заявка

3883296, 12.04.1985

МГУ ИМ. М. В. ЛОМОНОСОВА

БРАНДТ НИКОЛАЙ БОРИСОВИЧ, МИНИНА НАТАЛЬЯ ЯКОВЛЕВНА, ЛАВРЕНЮК МИХАИЛ ЮРЬЕВИЧ, САВИН АЛЕКСАНДР МИХАЙЛОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 3/08

Метки: испытания, монокристаллов, образцов, одноосного, сжатия, условиях

Опубликовано: 23.09.1986

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1259138-sposob-ispytaniya-obrazcov-monokristallov-v-usloviyakh-odnoosnogo-szhatiya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ испытания образцов монокристаллов в условиях одноосного сжатия</a>

Похожие патенты