Устройство для измерения спектральной поглощательной способности электропроводных материалов

СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКРЕСПУБЛИК САНИ ЗОБРЕТЕНИ ОРСКОМУ СВ ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ(71) Институт неорганической химии СО АН СССР(56) Свет Д. Я. Объективные методы высокотемпературной пирометрии при непрерывном спектре излучения, Мл Наука, 1968. с. 57 - 106.Ре %11 Р. Р. Кцпк 1 х 1. Т 1 еогу апс 1 1 ес 1- пщце 1 ог внг(асе 1 егпрега 1 цге де 1 еггп 1 па 1 опз ву гпеавигпд 11 е гадапсе Тегпрега 1 игев апд 1 пе аЬвогр 1 апсе га 1 о ог Мо ьчамеепдйз.1 п: Тегпрега 1 цге. 1(в гпеавцгетпеп 1 апд соп 1 го п зсепсе апд пдцв 1 гу, РШвЬцгд). 1 пз 1 гцгпеп 1 Яосе 1 у о 1 Агпегса. 1972, и. 4,1, р. 599.(54) (57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОЙ ПОГЛ 01 ЦАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ ЭЛЕКТРОПРОВОДНЫХ МАТЕРИАЛОВ, содержащее оптически связанные источник моиохроматического излучения и прерыватель излучения, датчик температуры и измеритель температурных колебаний образца, отличаюи 1 ееся тем, что, с целью повышения точности измерения, оно дополнительно содержит фото- приемник, управляемый импульсный источник питания с регулятором мощности и измеритель мощности, причем выход фотоприемника подключен и входу управляемого импульсного источИка питания таких Образом,что обеспечивает сдвиг фаз между импульсами фотоприемника и источника ;тания 180, а вход измерителя мощности подключен к выходу управляемого импульсного источника питашя.1237917ос Гавител 1. атксв 1 схрсл И. Бсрсс Корректор 1. Пилки нк Тираж 778 Поднисное ВНИИПИ Государственного комитета (ХСР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наг., л. 45 Филиал ППГ 1 Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Редактор Н. ГвьлкаяЗаказ 3280/42 Изобретение относится к радиационнойпирометрии, конкретно к измерению спектральной поглогцательной способности твердых тел, обладающих достаточной электропроводностью (металлы, сплавы, полупроводники), или тонких покрытий, используемых, например, в лазерной технике.Цель изобретения - повышение точности измерения,На чертеже представлена схема устройства.Устройство содержит источник монохроматического излучения, прерыватель 2 излучения, датчик 3 температуры, измеритель 4 температурных колебаний, источник 5 питания, фотоприемник 6, измеритель 7 мощности. Выход фотоприемника 6 подключен к входу источника 5 питания, а измеритель 7 мощности - к выходу источника 5 питания. К выходу источника 5 питания подключен также испытуемый образец 8.Измерение спектральной поглощательной способности проводится следующим образом.Свет от источника 1 монохроматического излучения проходит через прерыватель 2 излучения и падает на поверхность образца 8. При этом в образце возникают температурные колебания, фиксируемые датчиком 3 температуры и измерителем 4 температурных колебаний. Прерываемый свет частично попадает на фотоприемник 6, выход которого подключен к входу источника 5 питания. На выходе источника 5 питания возникают импульсы напряжения, и по образцу протекают импульсы электрического тока. Фото- приемник подключен к источнику питания так, что импульсы тока сдвинуты по фазе на 180 по отношению к импульсам поглощаемого образцом излучения, т. е. импульсы тока в образце создаются в промежутках между импульсами падающего на образец излучения. Амплитуда импульсов тока регулируется до полного прекращения температурных колебаний в образце. При достижении полной компенсации мощность импульсов электрического тока в образце равна мощности поглощенного образцом излучения, а отношение ее к мошцости падающего излучения равно спектральной поглощательной способности. В качестве источника монохроматического излучения может быть использован оптический квантовый генератор, в качестве датчика температуры - термопара, термометр сопротивления или фотоэлектрический датчик, причем градуировка датчика не требуется, Мощность падающего на образец излучения можно определить с помощью стандартных приборов, использующих модель абсолютно черного тела.Для измерения спектральной поглощательной способности не нужно знать тепло- емкость образца; измерения электрической мощности. осуществляются весьма точно, что предопределяет высокую точцость изме рений.В известном устройстве импульсы падающего на образец излучения должны быть достаточно короткими, так как в противном случае а 1 лплитуда температурных колебаний 25зависит це только от теплоемкости, цо и от теплоотдачи образца; из-за этого и колебания температуры получаются малыми.В устройстве температурные колебания докомпенсации могут быть большими, а это новыдает точность компенсации и определения спектральной поглоцательцой способности. Малая погрешность определения спектральной поглощательцой способности позволяет 1-овысить надежность расчетов различных устройств, в которых гОглогцецие и отражение света является суц 1 ествеццым (зеркала, в частности, в лазерной т.хцикс, радиационный теплооомец, оцаичсская иирометрия).