Аэрозольный распылитель твердых частиц

Номер патента: 260615

Опубликовано: 07.06.1982

Автор: Соболев

МПК: B01D 33/06

Метки: аппарат, жидкости, коллоидных, сгущения, твердой, твердых, фракции, частиц

...образующей со стенками камеры по периферии кольцевую щель, а также переливными патрубками, соединяющими фильтровальную камеру с камерой для сгущения твердого 15 осадка, укрепленной на том же валу, что и фильтровальная камера.Это позволяет повысить производительность аппарата.На чертеже схематически изпредложенный аппарат.Аппарат имеет фильтровальную камеру 1 и камеру 2 для сгущения твердой фракции. Камера 1 укреплена на полом валу 3, снабженном приводом. Внутри камеры 1 уста новлена перегородка 4, образующая со стенками камеры кольцевую щель. Камера 1 снабжена переливными патрубками 5, соединяющими ее с камерой 6 для сгущения твердой фракции.Аппарат работает следующим образом,2Исходную суспензию через полый вал подают в...

Номер патента: 448512

Опубликовано: 30.10.1974

Авторы: Бобков, Кузнецов, Суворов

МПК: H01J 37/26

Метки: анализа, поверхности, твердого, тела, частиц

...К, А,- кадры регистрации йзображения висходном состоянии. Способ осуществляется в следующем порядке начиная с калибровки системы. В систему автоионного микроскопа напускают изображающий газ с известнойдобавкой газа-эталона, Получают устойчивое автоионное изображение очи ценной; полевым испарением повер:;:11 ости обоазца и проводят его МтоЭ ффрегистрацию / например, получаюткадр/. Кратковремейно снижаютпотенциал острия с целью осажденияна его поверхности молекул газовой Добавки. Кратковременно повышают потенциал острия на ди уменьшают до исходного значения уо , соответствующего условиям наилучшего отображения поверхности образца. При этом часть адсорбированных частиц десорбируется полем, поскольку значение десорбирующего доля...

Номер патента: 945759

Опубликовано: 23.07.1982

Авторы: Карев, Карсунцев, Ляшкевич, Потапова, Черная

МПК: G01N 19/04

Метки: адгезии, мелкодисперсных, поверхности, твердых, частиц

...5321/63 Тираж 887 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Иосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5Ф.1 лиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул, Проектная, 4 3 94575 удельного объемного и поверхностного электросопротивления материала.Сущность способа заключается в следующем.На поверхность материала-диэлект рика наносят мелкодисперсные частицы одним из известных способов. Через материал пропускают электрический ток. При этом электрические силы адгезии частиц определяются способностью 1 в материала накапливать заряды статического электричества и зависят от величины удельного объемногои поверхностногоэлектросопротивления. 1Материал-диэлектрик, для которого значения объемного электросопротивления...

Номер патента: 113407

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Жигарев, Прудковский, Тягунов, Эрглис

МПК: B43L 11/00

Метки: движения, заряженных, полях, построения, прибор, траекторий, частиц, электрических

...отметчик б, вычерчивающий траекторию частицы на бумаге, по которой перемещается каретка 1.Измеренное двойным зондом 7 в электролитической ванне 8 напряжение У (где С - расстояние между штырьками зонда) подводится к входному трансформатору 9 электронного блока и усиливается электронными усилителями 10 и 11 с глубокой отрицательной обратной связью, обеспечивающей высокую стабильность коэффициента усиления (до 0,5%). Для получения минимальной погрешности входные сигналы усилителей автоматически поддерживаются в определенных пределах, обеспечивающих работу усилителей в оптимальных режимах, Регулирование входных сигналов осуществляется при помощи следящей системы, воздействующей на автотрансформатор 12, питающий электролитическую ванну 8....

Номер патента: 1265547

Опубликовано: 23.10.1986

Авторы: Назаров, Рахманов

МПК: G01N 13/00

Метки: адсорбированных, времени, жизни, поверхности, твердого, тела, частиц

...а время=Т-с запирания пото.ка недостаточным для полной десорбции 50частиц, адсорбированнык в предыдущийполупериод, то поверхностная концентрация адсорбированнык частиц и соответственно ионный ток десорбирующнхся частиц будут промодулированы 55с той же частотой модуляции, при этомони от периода к периоду будут возрастать. Процесс роста будет про 47 2должаться до тех пор, пока не установится некий квазистационарныйток, колеблющийся от 1 до 1 ммакси зависящий от времени жизнииони 1зирующихся частиц, частоты Р=и скважности модуляции= (крисвые 2 и 3).установлено, что эти величины связаны следующим соотношением7ф-. (1)Р, .1 ЬИЮсмикгде- скважность модуляции;Р - частота модуляции;макс У- максимальное и минимальноезначение ионного тока...