Способ определения глубины проникновения электромагнитного поля в металл

Номер патента: 121857

Автор: Григулис

ZIP архив

Текст

Класс 21 е, 1221 е, 36,о Ж 121857 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЙ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУЮ. К. Григулис СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЛУБИНЫ ПРОНИКНОВЕНИЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ПОЛЯ В МЕТАЛЛЗаявлено 30 октября 1958 г. за Ме 610670/24 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРОпубликовано в Бюллетене изобретений Ме 16 за 1959 г. Обычно применяемые способы определения глубины проникновения электромагнитного поля в металл с помощью датчика и экрана, вводимого в исследуемое поле, пригодны лишь для однородного поля плоских электромагнитных волн.Описываемый способ позволяет производить измерение глубины проникновения неравномерного электромагнитного поля. Это достигается тем, что в качестве датчика ииспользуют излучатель, создающий исследуемое поле, для чего измеряют его электрические параметры (например, полное сопротивление), изменяющиеся при внесении в это поле экранов разной толщины.На чертеже изображены кривые зависимости свойств датчика от толщины фольг из различных материалов.Определение глубины проникновения неравномерного электромагнитного поля (специальной формы) производится не по измерению величины проникшего поля, а по прекращению изменения электрических свойств излучателя при увеличении толщины изучаемого слоя или. фольги: толщина слоя меняется от толщин меньших глубины проникновения до толщин больших ее.Для производства измерений глубины проникновения поля датчика создается система (например, Т-образный мостик), определяющая его свойства, и снимаются кривые зависимости комплексных свойств датчика от толщины фольг из различных материалов (например, Сц, А 1, Хп, латуни и Яп). Из кривых (фиг. 1) видно, что при достижении некоторой толщины фольги, полное сопротивление Х датчика далее не меняется.Подобным образом можно также определять потери поля.121857 Предмет изобретения Ф 7 Я(857 150 140 120 а 5 овете Министров СССРГ Комитет по делам изобретений и открытий иедактор Р. А. Гальцева нформационно-издательский отдел. Поди. к печ. 9,Х 1-59 г,бъем О,7 п. л. Зак. 9437 Тираж 750 Цена Ж коп. пография Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Петровка, 14, Способ определения глубины проникновения электромагнитного поля в металл с помощью датчика и экрана, вводимого в исследуемое поле, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью возможности производства измерений в неравномерных полях, в качестве датчика используют излучатель, создающий исследуемое поле, для чего измеряют его электрические параметры (например, полное сопротивление), изменяющиеся при внесении в это поле экранов разной толщины, и глубину проникновения определяют по толщине того экрана, при котором прекращается изменение параметров излучателя.

Смотреть

Заявка

610670, 30.10.1958

Григулис Ю. К

МПК / Метки

МПК: G01R 33/02

Метки: глубины, металл, поля, проникновения, электромагнитного

Опубликовано: 01.01.1959

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-121857-sposob-opredeleniya-glubiny-proniknoveniya-ehlektromagnitnogo-polya-v-metall.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения глубины проникновения электромагнитного поля в металл</a>

Похожие патенты