Устройство для измерения коэффициентов отражения и прозрачности диэлектрических образцов

Номер патента: 121825

Автор: Мировицкий

ZIP архив

Текст

121825 Класс 21 а 4 71 СССР ОПИСАНИЕ ОБРЕТЕН ИДЕТ ЕЛЬСТВ АВТОРСКОМ ровицк ИЦИЕНТОВ КТРИЧЕСКИ Я ИЗМЕРЕН ИЯ КОЭФОЗРАЧНОСТИ ДИЭЛОБРАЗЦОВ ТРОЙСТВ АЖЕН ИЯ 7 мая 1958 г. за М 599263/26 в Комитет по и открытий при Совете Министров СС лаги изобретений Заявле бликовано в Ьюллетене изобретений Л за 1959 Известны устройства для измерения коэффициентов отражения и прозрачности диэлектрических образцов в замкнутых системах (в волноводных и коаксиальных линиях) и в свободном пространстве в диапазоне сантиметровых волн. Недостаток подобных устройств заключается в невозможности их использования для измерения параметров малых образцов на сравнительно длинных, например мегровых, волнах.В описываемом устройстве этот недостаток устраняется тем, что искусственное сжатие пучка электромагнитной энергии производится при помощи линии передачи поверхностной волны, снабженной зазором, в который вводится исследуемыи образец материала, или линии без зазора, проходящей через отверстие в исследуемом образце.На фиг. 1 показано устройство для измерения параметров исследуемого образца при помощи линии поверхностной волны с зазором; на фиг. 2 - вариант устройства с линией, проходящей через исследуемый образец.Высокочастотные колебания, сОздаваемые генератором 1, в качестве которого может быть использован, например, отражательный клцстрон, поступают в отрезок СВЧ тракта, снабженный калиброванным аттенюатором 2, служащим для регулировки уровня мощности, подаваемой в линию передачи, Для контроля уровня СВЧ сигнала, подаваемого в линию, часть СВЧ энергии из тракта через направленный ответвитель 3 подают на детекторную секцию 4, усиливают усилителем б и измеряют измерительным прибором б. Линия передачи поверхностной волны 7 служит для искусственного сжатия пучка электромагнитной энергии, которая распространяется вдоль ее поверхности. Линию выполняют в виде круглого или прямоугольного стержня из органического стекла или искусственного диэлектрика. В разрыв линии передачи помещают исследуемый образец 8. Часть энергии отражается от образца О и возвращается обратно по линии 7. При помощи направленного ответвителя 9 отраженный сигнал подается на детекторную секцию 10, усиливаЖ 121825 Предмет изобретения Устройство для измерения коэффициентов отражения и прозрачности диэлектрических образцов, отличающееся тем, что, с целью создания возможности измерения малых образцов в диапазоне до метровых волн путем искусственного сжатия пучка электромагнитной энергии, в устройстве применена линия передачи поверхностной волны с зазором, в который помещен образец или линия без зазора, пропущенная через отверстие в образце,13 14 7 иг. 1 Ко ткрытий пр вете Министров СС по делам изобретении едактор Кутаавскни отдел,3 а к. ираж 8 пография Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Петровка, 14.еся усилителем 11 и измеряется прибором 12. Энергия СВЧ колебаний, прошедшая через иссчедуемый образец 8, продолжает распространяться по линии 7, оканчивающейся детекторной секцией 13. Напряжение, снимаемое с выхода секции 13 усиливают усилителем 14 и измеряют прибором 15. Компенсацию ослабления сигналов при прохождении их по линии передачи осуществляют регулировкой коэффициентов усиления усилителей 11 и 14.Напряжение, подаваемое на измерительный приоор б, может использоваться для нормирования отраженного и прямого сигналов, измеряемых приборами 12 и 15. Для регистрации результатов измерений прямой и отраженный сигналы могут быть поданы на самописец,По уровню прямого и отраженного сигналов, измеренных до и после введения образца 8 в зазор линии 7, определяют коэффициент отражения и прозрачности диэлектрических образцов. На дециметровых и метровых волнах разрыв в линии передачи вносит слишком большое затухание, вследствие чего целесообразнее линию передачи пропустить сквозь исследуемый образец, как это показано на фиг.2. Методика измерений при этом остается прежней.

Смотреть

Заявка

599263, 07.05.1958

Мировицкий Д. И

МПК / Метки

МПК: G01R 27/06

Метки: диэлектрических, коэффициентов, образцов, отражения, прозрачности

Опубликовано: 01.01.1959

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-121825-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-koehfficientov-otrazheniya-i-prozrachnosti-diehlektricheskikh-obrazcov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения коэффициентов отражения и прозрачности диэлектрических образцов</a>

Похожие патенты