Способ электромагнитной структуроскопии ферромагнитных объектов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
1188633 1 О Составитель П.ШкатовРедактор А. Гупько Техред А.Ач Корректор М. Демчик Заказ 6738/46 Тираж 896 Подписное ВНИИИИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проектная, 4 Изобретение относится к неразру шающему контролю и может быть использовано для структуроскопии протяженньи ферромагнитных объектов.Цель изобретения - повышение чув ствительности контроля.На чертеже представлены две зависимости регистрируемого параметра Р минимальной амплитуды разности,сигналов: при предварительном намагничивании (кривая 1) и беэ него (кривая 2) от величины твердости в единицах НВСЭСпособ реализуется следующим образом, 15Контролируемый и образцовый объекты предварительно намагничивают, например, с помощью соленоида в одинаковом направлении до максимального значения остаточной магнитной индук ции. Затем контролируемый и образцовый объекты размещают в идентичных проходных вихретоковых преобразователях и перемещают контролируемый гобъект через соответствующий проходной вихретоковый преобразователь. В процессе перемещения измеряют амплитуду разности сигналов проходных вихретоковых преобразователей, например, с помощью электроиэмерительного прибора, подключенного к выходу этих преобразователей при их дифференциальном включении.Из измеренных сигналов выбирают минимальное значение и по нему определяют результат контроля, например твердость по Роквеллу контролируемого объекта.Как следует из чертежа, чувствительность контроля в первом случае существенно больше. Это объясняется воздействием магнитного поля остаточной индукции на магнитное состояние объектов.В данном случае величина намагничивающего поля задается самим объектом и зависит от свойств его структуры.
СмотретьЗаявка
3764825, 29.06.1984
ХОЛКИН АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ, АФОНИН АЛЕКСАНДР ВЛАДИМИРОВИЧ, КОРОБУЛИН АЛЕКСАНДР ГРИГОРЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/90
Метки: объектов, структуроскопии, ферромагнитных, электромагнитной
Опубликовано: 30.10.1985
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1188633-sposob-ehlektromagnitnojj-strukturoskopii-ferromagnitnykh-obektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ электромагнитной структуроскопии ферромагнитных объектов</a>
Предыдущий патент: Способ настройки, калибровки и поверки приборов электромагнитного контроля качества изделий и устройство для его осуществления
Следующий патент: Устройство для неразрушающего контроля металлических изделий
Случайный патент: Приспособление к банкаброшу для предотвращения затяжки съема при обрыве ремня на коноидах