Способ измерения параметров электропроводящих пленок

Номер патента: 1185268

Авторы: Виноградов, Голованов

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОНЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК ГОСУДАРСТПО ДЕЛАМ НИЕ ИЗОБРЕТ 4(21) 3681 (22) 29. (46) 15. НЫИ КОМИТЕТ СССРОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ 12.8310.85. Бюл,38(72) Е.А.Виноградов и В,И.Голованов (71) Институт общей физики АН СССР (53) 621.317.335(088.8)(56) Виноградов Е.А., Голованов В.Н., Ирисова Н.А., Латышев А.Б. Пропускани тонких металлических пленок в диапазоне длин волн 1-2 мм. Краткие сообщения по Физике, ФИАН, 1981,12, с.53.2. Виноградов Е.А., Голованов В.И. Ирисова Н.А., Латышев П.Б. Отражение от тонких металлических пленок при 1:1 мм. Краткие сообщения по физике, ФИАН, 1982,8, с11.(54) (57) СПОСОБ ИЗИЕРЕНИЯ ПАРХИЕТРОВ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯПИХ ПЛЕНОК, включающий облучение исследуемой электропроводящей пленки волной квази-ТЕИ под углом 9 падения, измерение модуля коэффициента отражения или прохождения и расчет параметров. исследуемой электро- проводящей пленки, о т л и ч а ю - щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и упрощения измерений, угол 0 падения. выбирают в .пределах0 ( 8 й 30, а вектор Е волны квази- ТЕИ ориентируют так, что его проекции на плоскость падения и перпендикулярную ей плоскость равны по ампли-туде и имеют произвольную разность ф1185268 Составитель В.ВасильевРедактор К.Волощук Техред О.Неце Корректор В.Синицкая Заказ 636042 Тираж 747 Подписное БНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5филиал ППП "Патент", г.ужгород, ул.Проектная, 4 Изобретение относится к радиотехническим измерениям .и может быть использовано в диапазонах от ИК до СВЧ для измерения параметров электро- проводящих пленок с широким интерва лом величин коэффициентов пропускания, отражения, поглощения или поверхностного сопротивления.Цель изобретения - повышение точности и упрощение измерений.10Предлагаемый способ измерения параметров электропроводящих пленок реализуется следующим образом.Исследуемая электропроводящая пленка облучается волной квази-ТЕМ 15 под углом падения 08430 , причем вектор Е волны квази-ТЕМ.ориентируют так, что его проекции на плоскость падения и перпендикулярную ей плоскость равны по амплитуде и имеют произвольную разность фаз. Измеряют модуль коэффициента отражения или прохождения и по нему судят о параметрах исследуемои электропроводящей пленки.Способ основан на том факте, что при изменении угла падения волны квази-ТЕМ в пределах 0 - 30 (с указанной ориентацией вектора Е) величина коэффициента пропускания (отражения) для составляющей волны квази-ТЕМ с вектором Е, лежащим в плоскости падения, уменьшается (увеличивается), а для составляющей с вектором Е, перпендикулярным плоскости падения, - увеличивается (уменьшается) практически на одну и ту же величину, и потому результирующая отраженная (прошедшая) мощность практически не зависит от угла В падения (в пределах 04030) .

Смотреть

Заявка

3681618, 29.12.1983

ИНСТИТУТ ОБЩЕЙ ФИЗИКИ АН СССР

ВИНОГРАДОВ ЕВГЕНИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ГОЛОВАНОВ ВЛАДИМИР ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 27/26

Метки: параметров, пленок, электропроводящих

Опубликовано: 15.10.1985

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1185268-sposob-izmereniya-parametrov-ehlektroprovodyashhikh-plenok.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров электропроводящих пленок</a>

Похожие патенты