Способ контроля качества наклеивания тензорезисторов

Номер патента: 1401402

Опубликовано: 07.06.1988

Авторы: Сахаров, Соколов

МПК: G01R 27/04

Метки: волнового, зоны, однородной, перестраиваемой, сопротивления, тем-камеры, установки

...представляют собой прямоугольные импульсы, изображенные на фиг, 2 пунктирной линией. Относительное изменение волнового сопротивления равно6 Ш; Жт - т 2 В; - Е.)= 2 Ьц, (2)где %, - волновые сопротивления образцовой меры 3.Регистрируемая импульсным рефлектометром 4 разность отраженных сигналов от 10 однородной зоны 1 и образцовой меры 3состоит из суммы отраженных сигналов от всех и - 1 участков согласующего перехода 2 и равнаи=и - и.=Х р, П(1-р;) (3)Если волновое сопротивление однороднойзоны 1 равно волновому сопротивлению образцовой меры 3, то максимальная оценка разности отраженных сигналов от однородной зоны 1 и образцовой меры 3, регистрируемая импульсным рефлектометром 4, определяется по формуле (3). Если произвести перестройку...

Номер патента: 724919

Опубликовано: 30.03.1980

Авторы: Исаев, Рубашко

МПК: G01B 7/16

Метки: качества, наклеивания, тензорезисторов

...из условия сохранения работоспособности тензорезистора. Измеряется изменение сопротивлениятензорезистора во времени.После получения графчика изменения сопротивления, представляющего собой реакцию тензорезистора на импульс электрического тока, последний сравнивается с графиком реакции на аналогичный импульс наклеенного калибровочного тензорезистора,Сравнение дает возможность сделать заключение о качестве приклейки, характередефекта и о величине уменьшения коэффициента чувствительности тензорезистор а.Некачественная наклевка тензорезисторабуАет вызывать большее в сравнении с калибровочной кривой температурное прира.УФ-УдЖ.-."фйГеййе сбпротивлезйя в" мвоамент,окойайия" на" йак 3 етенный тензорезистор подают имдейетвияимйусльса тййй ЪВЙЪфй...

Номер патента: 620806

Опубликовано: 25.08.1978

Авторы: Ефимов, Якунин

МПК: G01B 7/16

Метки: бумажной, качества, наклеивания, основе, пленочной, тензорезисторов

...такой способ позволяет определять дефекты при малой плошади неприклеенных участков тензорезисторов. Кроме того, при большой величине пропускаемого тока коэффициент чувствительности тензорезистора понижается или тензорезистор полностью выходит из строя.Целью изобретения является повышение точности определения качества наклеивания тензорезисторов.Это достигается тем, что по предлагаемому способу через тензорезистор пропускают ток, не превышающий рабочий, и по локальным изменениям температуры тензорезистора определяют качество наклеивания. На изделие 1 (см. чертеж) накорезистор 2, к выходам которого очник тока 3. При помощ а 4, передвигаемого по пов ензорезистора 2, определя его перегрева. Сигнал с те усиливается усилителем 5к выходу...

Номер патента: 1105754

Опубликовано: 30.07.1984

Авторы: Раткевич, Шелепаев

МПК: G01B 7/16

Метки: качества, наклеивания, тензорезисторов

...является способ определения качества наклеиваниятензореэисторов, заключающийся втом, что тензорезистор наклеивают 2 Она образец, пропускают через тензорезистор электрический ток и измеряют его сопротивление 23Данный способ характеризуется невысокой точностью определения качест ва наклеивания,Цель изобретения - повышение точности,Поставленная цель достигаетсятем, что согласно способу определения качества наклеивания тензорезисторов, заключающемуся в том,что тен- .зорезистор наклеивают на образец,пропускают через тензорезистор электрический ток и измеряют его сопротивление, после измерения сопротивления образец с тензорезистором охлаждают до отрицательной температуры, нагревают до температуры, прикоторой проводилось наклеивание тен-, 4...

Номер патента: 1293475

Опубликовано: 28.02.1987

Авторы: Корешев, Микеничев, Сударев

МПК: G01B 7/16

Метки: качества, наклеивания, тензорезисторов

...коэффициентатеплопроводности участкацкл . 45д Юклтензорезистор - объектК + - -+К1 тг-к лкл 1-об9 - коэффициент выбираемый ис 9ходя из допустимой степени где К и К - тепловые сопро- отклонения процесса нагреварте к 1 к тивления зон кон- системы тензорезистор -такта между тен- клей - поверхность объектазорезистором и от адиабатического;клеем и соответ- определяют и сравнивают приращенияственно между сопротивлений контролируемого и каклеем и объектом, либровочного тензорезисторов толькокл- коэффициент тепло в момент окончания тестового импульпроводности клея. са тока.ВНИИПИ Заказ 370/41 Тираж 678 Подписное-, .- - -- . Изобретение относится к измерительной технике и является усовершенствованием известного способа, описанного в...