Способ определения качества наклеивания тензорезисторов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОЮЗ СОВЕТСНИХОЦИАЛИСТИЧЕСНИХЕСПУБЛИН А ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕАВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУЭ кевич сесоюэного институ- тва тво СССР1970о СССР1978 О е ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ(54) (57) СПОСОБ. ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВАНАКЛЕИВАНИЯ ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ,ф заключающийся в том, что тенэорезисторнаклеивают на образец, пропускают через тензореэистор электрический токи измеряют его сопротивление, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности, после измерения сопротивления образец с тенэорезистором охлаждают до отрицательной температуры, нагревают до температуры,при которой проводилось наклеивание тенэорезистора,измеряют сопротивление.тенэореэнстора и по изменению сопротивления определяют качество наклеивания.1105754 ЗО Составитель Т. НиколаеваРедактор М.Келемеш Техред Т. Дубинчак Корректор Е.Сирвхман Тираж 587 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д,4/5 Заказ 5585/32 Филиал ППП Патент, г.ужгород, ул.Проектная,4 Изобретение относится к измерительной технике, а именно к тензометрическим измерениям, и предназначенодля определения качества наклеиваниятензорезисторов.Известен способ определения качества наклеивания тензорезисторов,заключающийся в том, что на наклеенный тензорезистор подают импульсэлектрического тока, в 5-15 раз превышающий рабочий, и по обугливанию оосновы обнаруживают непроклеенныеучастки тензорезистора 1 )Недостатки способа - низкая точность оценки качества наклеиванияи невозможность автоматизации процесса определения качества.Наиболее близким по техническойсущности к изобретению является способ определения качества наклеиваниятензореэисторов, заключающийся втом, что тензорезистор наклеивают 2 Она образец, пропускают через тензорезистор электрический ток и измеряют его сопротивление 23Данный способ характеризуется невысокой точностью определения качест ва наклеивания,Цель изобретения - повышение точности,Поставленная цель достигаетсятем, что согласно способу определения качества наклеивания тензорезисторов, заключающемуся в том,что тен- .зорезистор наклеивают на образец,пропускают через тензорезистор электрический ток и измеряют его сопротивление, после измерения сопротивления образец с тензорезистором охлаждают до отрицательной температуры, нагревают до температуры, прикоторой проводилось наклеивание тен-, 4 Озорезистора, измеряют сопротивлениетензорезистора и по измерению сопротивления определяют качество наклеивания. Способ осуществляется следующим образом.Тензорезистор наклеивают на образец и пропускают через тензорезистор электрический ток, величина которого выбирается из условия сохранения работоспособности тензорезистора, Измеряют сопротивление тензорезистора. Затем образец помещаютв среду, имеющую отрицательную температуру, и выдерживается так в течение времени, необходимого для охлаждения образца до температурысреды. После этого образец нагревают до температуры, при которой проводилось первоначальное измерение,.и по истечение времени, необходимого для принятия образцом укаэаннойтемпературы, вновь измеряют сопротивление тензореэистора. Качествонаклеивания определяют по изменениюсопротивления тензорезистора,Физическая сущность предлагаемогоспособа состоит в том, что при охлаждении образца неприклеенные участкитенэорезисторов испытывают сильноекоробление, решетка тензореэисторадеформируется, в результате меняется его сопротивление, После нагреваобразца с некачественно наклееннымитензорезисторами до температуры,при которой производилось первоначальное измерение сопротивления,основа тензорезистора (в силу своейпластичности и наличия остаточныхдеФормаций) препятствует решеткетенэорезистора принять первоначальное положение, в результате величина его омического сопротивления .значительно отличается от первоначальной.Способ по изобретению позволяетповысить точность определения качества наклеивания тензорезисторовв процессах измерения деформаций инапряжений с помощью тензорезистооов.
СмотретьЗаявка
3599878, 30.05.1983
НОВОСИБИРСКИЙ ФИЛИАЛ ВСЕСОЮЗНОГО НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКОГО ИНСТИТУТА ТРАНСПОРТНОГО СТРОИТЕЛЬСТВА
ШЕЛЕПАЕВ АРКАДИЙ ГЕОРГИЕВИЧ, РАТКЕВИЧ МИХАИЛ ГРИГОРЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 7/16
Метки: качества, наклеивания, тензорезисторов
Опубликовано: 30.07.1984
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1105754-sposob-opredeleniya-kachestva-nakleivaniya-tenzorezistorov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения качества наклеивания тензорезисторов</a>
Предыдущий патент: Тензометрический датчик контактного сопротивления и способ его изготовления
Следующий патент: Устройство для измерения перемещений
Случайный патент: Устройство для поперечной распиловки материала