Способ определения времени экспозиции в электронно-лучевых приборах
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 117115
Автор: Сушкин
Текст
1 710 Класс 21 о, 37 СССР 1 НАТоНТИО-гТьХНКЧЕСКАЛ ЬИЬДИОТЕКА САНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ТЕЛЬСТВУ АВТОРСКОМУ. Г. Сушкин ОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЭКСПОЗИЦИ В ЗЛЕ 1 ЛРОННО-ЛУЧЕВЫХ ПРИБОРАХ950 г. за438893,26 в Гоотехнвку СССР аявлено 25 ноября Изобретение Относится к способаэ 1 определения Вре 1 ени экспозпцпп в электронно-лучевых приборах при фотографировании изобретения.Определение времени экспозиции В электронных микроскопах производится либо визуально по яркостп свечения экоана, лпбо методом проб. Как тот, так и друтой способ приводит к непроизводительному расходованию фотоматериалов.Цель изобретения - сократить расходование фотоматериала и упростить процесс опредеени времени экспозиции. Предлагаемый способ о, новап на визуальном сравнении яркости флюоресцирующего экрана с яркостью контрольного участка того же экрана, облучаемого вспомогатеяым у;1 ьт 1 эафполетозы 1 излучеп 1 сэ 1, интепспшОсть кот 01 эОГО п 1 эедВ 2- рительно пооградуирована в едНицах Врс;:с:п; экспозиции.На чеэтеэке схемати 1 НО изображено устэоство для засВеткп кон: - рольного участка флюоресцирующего экрана,В электронном микроскопе монтируется Источник 1 ультрафиолето- ВОГО излучения,;у От кооэого с гомсцьО зсэка;1 2 направляотея на защищенный участок 4 флюоресцирующего экрана о, на который пронцируется электронное изображение 5.Флюоресциэу 10 пиЙ экэан сВетится под в;иянием ультрфполетового света и это свс 101:ис з;ВСит от Интенсивности злучателя, которое эсГули 1 эуется 1 эсостатоэ В цепи накала источни 12. Для Опредегения Врсыени экспозиции 1 эеостатоэ 1 накала источ 1 Нк 1 подоирается т 21".Оп нака,1, при котором яркость свечения от электронного излучения будет равна яркости свечения под влиянием ультрафиолетового света. Прибор, определяОщий ток накала истоника ии н 21 цэяжснпя П 2 кала Градуп 1 э ется 1 епосэедствснно В секундах экспозиции, Уцет чуВствитсльпОстп иэотОп,2- стиьки моэкет производиться как с помощью псэсходпых кОэффпциентов, так и с помощью специально рассчитанных шкал.Способ позволяет определить время экспозиции как по наиболее яркому участку электронного изобраэкепия, та.: и по лОбоу другому.Предмет изобретения Способ определения времени экспозиции в электронно-лучевых при. борах, например в электронном микроскопе, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности определения, яркость требуемого участка электронного изображения, полученного на флюоресцирующем экране прибора, визуально сравнивают с яркостью контрольного участка того же экрана, облучаемого вспомогательным ультрафиолетовым излучением, интенсивность которого регулируют прибором, предварительно проградуированным в единицах времени экспозиции. ОПЕЧАТК Ст Следует читать(окитет по, сиам изобретений и открытий при Совете Л 1 ипистров ССС актор Н. С. Кутафина Гр, 9 информационно-издатслОбъем 0,17 п. л. пй отдел Поди, к печ 51 о 9 г.нраж 2175 Цена 25 коп,Зак. 31 делам изобретений и открьггпп прп Совете Министров ССС Москва Петровка, 14
СмотретьЗаявка
438893, 25.11.1950
Сушкин Н. Г
МПК / Метки
МПК: H01J 37/26
Метки: времени, приборах, экспозиции, электронно-лучевых
Опубликовано: 01.01.1958
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-117115-sposob-opredeleniya-vremeni-ehkspozicii-v-ehlektronno-luchevykh-priborakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения времени экспозиции в электронно-лучевых приборах</a>
Предыдущий патент: Способ определения широты (l) фотографических материалов и устройство для осуществления способа
Случайный патент: Сканирующее устройство