Способ настройки дефектоскопа

СОЮЗ СОВЕТСНИХсюлФМ,нникРЕСПУБЛИН 1829 ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ СТВУ ВТОРСНОМУ(54) (57) СПОСОБПА, заключающийся СТРОЙКИ ДБФЕКТОСКО.том, что в эталонном СУДАРСТВЕННЬЙ НОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(71) Всесоюзный ордена Трудового КрасногоЗнамени научно - исследовательский и конструк.торско-технологнческий институт трубной про.мышленности(56) 1. Ермолов И. Н. Методы ультразвуковойдефектоскопии. М., МГИ, 1967, с, 222 - 227,2. ГОСТ 17410 - 78, с. 12 (прототип) резце с нормированным дефектом возбуждаютультразвуковые колебания, принимают эхо.сигналы, отраженные от дефекта при заданномуровне приема, и по амплитуде этих сигналов,устанавливают уровень чувствительности дефек.тоскопа, отлича ющи йся тем, что,с цельвповышения точносзи настройки, опреде.1 явт ампли.зуду эхо.сигналов при сканировании нормированного дефекта по всей его длине и по этимамплитудам выбирают уровень чувствителывс.ти дефектоскопа, а вероятность выявлениядефекта при выбранном уровне чувствителыкюзи определяют по отношению длины участковдефекта, от которых амплитуда эхо-сигналавыше заданного уровня приема, к общей его1073 б 99 Составитель Г. ФедоровТехред Л.Пилипенко Редактор М, Келемеш Корректор В. Бутяга Тираж 823 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Щ, Раушская иаб., д. 45 Заказ 322/44 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4 Изобретение Относится к неразрушающемуконтролю и может быть использовано для настройки дефектоскопа при ультразвуковомконтроле изделий,Известен способ настройки ультразвуковогодефектоскопа, заключающийся в том, что в зталонном образце с нормированным дефектомвозбуждают ультразвуковые колебания, принимают отраженные от дефекта эхо-ситиалы призаданном уровне приема, а,по амплитуде этих 10сигналов устанавливают чувствительность контроля Г 13,Однако известный способ имеет низкуюточность настройки из-за неравномерностиамплитуды зхо сигналов, Отраженных От раэ5личных участкОв дефекта.Наиболее близким к изобретению являетсяспособ настройки дефектоскопа, заключающийсяв том, что в эталонном образце с нормированным дефектом возбуждают ультразвуковыеколебания, принимают зхо-сигналы, отраженныеОт дефекта нри заданном уровне приема, и поамплитуде этих сигналов устанавливают уровень чувствительности дефектоскопа 121.НФДОстаток данного способа заключается В 5том, что невозможно проводить настройку дефектоскопа с требуемой вероятностью дефекта,что снижает надежность проведения контроля.Цель изобретения - повышение точностинастройки,ЗОЦель достигается тем, что согласно способунастройки дефектоскопа, заключающемусяв том, что в эталонном образце с нормированным дефектом возбуждают ультразвуковыеколебания, принимают эхо-сигналы, отраженныеОт дефекта нри заданном уровне приема, и по 35. амплитуде этих. сигналов устанавливают уровеиь чувствительности .дефектоскопа, определяют амплитуду эхо-сигналов при сканированиинормированного дефекта по всей его длинеи аб этим амплитудам выбирают уровень 4 О. чувствительности дефектоскопа, а вероятность выявления дефекта при выбранном уровне чувствительности определяют по отношению длины участков дефекта, от которых амплитуда эхо" сигнала выше заданного уровня, к общей его длине.Способ настройки дефектоскопа осущест. вляется следующим образом.В эталонном образце с нормированным дефектом, например в виде риски с определенной глубиной, возбуждают ультразвуковые колебания. Принимают эхо.ситналы, отраженные от дефекта, и измеряют их амплитуду при определенном уровне приема. Затем осуществ. ляют сканирование нормированного дефекта по его длине и измеряют амплитуду отраженных от различных участков дефекта эхо-сигна. лов. По изменению амплитуды эхо-сигналов вдоль длины дефекта определяют вероятность обнаружения дефекта поочередно при каждом уровне чувствительности дефектоскопа. За вероятность принимают отношение суммарной длины участков дефекта, амплитуда отражен. ных эхо-сигналов от которых выше каждого поочередно рассматриваемого уровня чувстви. тельности дефектоскопа, к обшей протяжен ности дефекта, Далее по вычисленным отиоше. ниям строится вероятностная кривая, описывающая вероятность обнаружения данного дефек. та в зависимости от уровня чувствительности дефектоскопа. При контроле уровень чувствитель ности выбирается по точке на вероятностной кривой в пределах диапазона вероятностей, исхо. дя из требований, предъявляемых условиями работы контролируемых изделий, и соотношения уровней перебраковки и недобраковки. Таким образом, предлагаемый способ настройки дефектоскопа позволяет значительно повысить точность настройки, поскольку выбираемый при контроле уровень чувствительности дефектоскопа обеспечивает с требуемой вероятностью выявление дефектов,