Способ контроля качества полупроводниковых приборов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 438947
Автор: Модель
Текст
Союз Советских Социалистических Республик(5 л, б 01 г 31/2 Н 011 19(0 вкис присоединени 32) ПриоритетОпубликовано 05,08.74, Бюллетень29Дата опубликования описания 13.01.75 осударственный комитетСовета Министров СССРпа делам изобретенийв открытий(71) Заявитель УПРОВОДНИКОВЫХ ОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПРИБОРОВО особам контро п ово никовы е относится к кремниевых п пература является форсирующим фактором для ускоренного выявления основной массы параметрических отказов приборов, обуслов. ленных инверсионными слоями и каналами с близкой к нулю энергией активизации,Выдержку в камере холода предлагается проводить в ужесточенном временном и электрическом режимах (в течение нескольких часов при предельно допустимой по напряжению электрической нагрузке, так как наличие электрического поля может явиться дополнительным фактором, ускоряющим выявление скрытого брака на холоде). редмет изобретен роля качества полупроводникос помощью климатических ислодо- и теплостойкость, о т л нем, что, с целью повышения прогнозирования отказов, клипытания начинают с испытаний кость, причем приборы выдертемпературе - 60 С в течение сов, после чего измеряют их параметры при этой темпераСпособ конт вых приборов пытаний на хо чающийся т эффективности матические ис на холодостой жив ают при нескольких ча электрические туре. Изобретени спля качества олу р д х приборов,Известны способы контроля качества полупроводниковых приборов с помощью климатических испытаний,Известные способы не позволяют точно прогнозировать параметрические отказы приборов, потому что испытание при повышенной температуре предшествует испытанию при,пониженной температуре, а при воздействии повышенной температуры происходит временной отжиг дефектов, определяющих параметрические отказы приборов в холоде и при длительной эксплуатации.Целью изобретения является повышение эффективности прогнозирования отказов при длительной эксплуатации приборов.Эта цель достигается благодаря тому, что климатические испытания начинают с испытания на холодостойкость, причем приборы выдерживают при температуре - 60 С в течение нескольких (порядка шести) часов, после чего измеряют их электрические параметры при любой температуре.Во избежание потери информации о возможных отказах начинают испытания с воздействия холодом, поскольку пониженная темоц 438947
СмотретьЗаявка
1825764, 07.09.1972
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4149
МОДЕЛЬ ЕВГЕНИЯ ИОСИФОВНА
МПК / Метки
МПК: G01R 31/26
Метки: качества, полупроводниковых, приборов
Опубликовано: 05.08.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-438947-sposob-kontrolya-kachestva-poluprovodnikovykh-priborov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качества полупроводниковых приборов</a>
Предыдущий патент: Способ бесконтактного измерения коэффициента холла в полупроводниках и металлах
Следующий патент: Устройство для разбраковки полупроводниковых приборов
Случайный патент: Устройство для наполнения сосудов жидкостью