Способ контроля качества полупроводниковых приборов

Номер патента: 438947

Автор: Модель

ZIP архив

Текст

Союз Советских Социалистических Республик(5 л, б 01 г 31/2 Н 011 19(0 вкис присоединени 32) ПриоритетОпубликовано 05,08.74, Бюллетень29Дата опубликования описания 13.01.75 осударственный комитетСовета Министров СССРпа делам изобретенийв открытий(71) Заявитель УПРОВОДНИКОВЫХ ОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПРИБОРОВО особам контро п ово никовы е относится к кремниевых п пература является форсирующим фактором для ускоренного выявления основной массы параметрических отказов приборов, обуслов. ленных инверсионными слоями и каналами с близкой к нулю энергией активизации,Выдержку в камере холода предлагается проводить в ужесточенном временном и электрическом режимах (в течение нескольких часов при предельно допустимой по напряжению электрической нагрузке, так как наличие электрического поля может явиться дополнительным фактором, ускоряющим выявление скрытого брака на холоде). редмет изобретен роля качества полупроводникос помощью климатических ислодо- и теплостойкость, о т л нем, что, с целью повышения прогнозирования отказов, клипытания начинают с испытаний кость, причем приборы выдертемпературе - 60 С в течение сов, после чего измеряют их параметры при этой темпераСпособ конт вых приборов пытаний на хо чающийся т эффективности матические ис на холодостой жив ают при нескольких ча электрические туре. Изобретени спля качества олу р д х приборов,Известны способы контроля качества полупроводниковых приборов с помощью климатических испытаний,Известные способы не позволяют точно прогнозировать параметрические отказы приборов, потому что испытание при повышенной температуре предшествует испытанию при,пониженной температуре, а при воздействии повышенной температуры происходит временной отжиг дефектов, определяющих параметрические отказы приборов в холоде и при длительной эксплуатации.Целью изобретения является повышение эффективности прогнозирования отказов при длительной эксплуатации приборов.Эта цель достигается благодаря тому, что климатические испытания начинают с испытания на холодостойкость, причем приборы выдерживают при температуре - 60 С в течение нескольких (порядка шести) часов, после чего измеряют их электрические параметры при любой температуре.Во избежание потери информации о возможных отказах начинают испытания с воздействия холодом, поскольку пониженная темоц 438947

Смотреть

Заявка

1825764, 07.09.1972

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4149

МОДЕЛЬ ЕВГЕНИЯ ИОСИФОВНА

МПК / Метки

МПК: G01R 31/26

Метки: качества, полупроводниковых, приборов

Опубликовано: 05.08.1974

Код ссылки

<a href="https://patents.su/1-438947-sposob-kontrolya-kachestva-poluprovodnikovykh-priborov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качества полупроводниковых приборов</a>

Похожие патенты