Способ измерения малых радиусов закруглениятвердых тел

Номер патента: 429256

Автор: Львов

ZIP архив

Текст

п 11 42925 б ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик(32) ПриоритетОпубликовано 25,05,74. БюллетеньДата опубликования описания 24.10.7 осударственныи комитет,Совета Министров СССРпо делам изобретенийи открытий 3) УДК 531 717(72) Авторизобретени В, Н. Львов 1) Заявитель сного Знамени институт физической хими рдена Трудово 4) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАЛЪХ РАДИУСОВ ЗАКРУГЛЕ ТВЕРДЫХ ТЕЛв закругления имерения при микрй поверхности.ысокой чувствителнных кристалловвеличина нагрузкить настолько маллые радиусы закрй твердости, наприллов. повышениеоидентировамалых радиусо точности их из нии измеряемоБлагодаря в кристаллов ио воздействиям, тело может бь определять ма даже невысоко ленных из мета ьности монок внешнимна твердое , что можно угления тел мер изготовПредм зобрете Способ относится к измерительной технике, в частности к измерению малых радиусов закругления твердых тел, например алмазных игл профилографов.Известен способ измерения радиусов закругления твердых тел, заключающийся в микроидентировании измеряемой поверхности в металл на определенную глубину, получения ламинограммы линии пересечения контролируемой поверхности с металлом и измерения диаметра этой линии.Однако известный способ требует использования больших нагрузок, что приводит к деформации, и тем самым, к снижению точности измерения, а также нет возможности проводить измерение малых радиусов, вследствие ограниченной разрешающей способности способа измерения.С целью исключения этих недостатков, тело измеряемой поверхностью приводят в соприкосновение с монокристаллом ионного кристалла, например фтористого лития, с такой минимальной нагрузкой, при которой образуются дислокации, затем после выдержки в течении 5 - 30 сек и выявления дислокаций, например путем травления, измеряют пробег лидирующих дислокаций, по величине которого судят о значении,радиуса.Этим достигается возможность измерения Способ измерения малых радиусов закруг ления твердых тел, например алмазных иглпрофилографов, заключающийся в микроидентировании измеряемой поверхности, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерения и расширения диапазона 20 измерения в сторону малых радиусов, телоизмеряемой поверхностью приводят в соприкосновение с моноиристаллом ионного кристалла, например фтористого лития, с такой минимальной нагрузкой, при которой образу ются дислокации, затем после выдержки в течение 5 - 30 сек и выявления дислокаций, например путем травления, измеряют пробег лидирующих дислокаций, по величине которого судят о значении радиуса,

Смотреть

Заявка

1752800, 28.02.1972

В. Н. Львов

МПК / Метки

МПК: G01B 5/14

Метки: закруглениятвердых, малых, радиусов, тел

Опубликовано: 25.05.1974

Код ссылки

<a href="https://patents.su/1-429256-sposob-izmereniya-malykh-radiusov-zakrugleniyatverdykh-tel.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения малых радиусов закруглениятвердых тел</a>

Похожие патенты