426333

Номер патента: 720567

Опубликовано: 05.03.1980

Авторы: Сковорода, Тимофеев, Швилкин

МПК: H01J 17/48

Метки: магнитное, плазмы, поле, помещенной, температуры, электронной

...вычисляют из следующей зависимости: 65 где 6 - коэФфициент поглощениямощности электромагнитнойволны в плазме,1 ЛВ -/1" (В 3 )производная магнитная поляВ по координатев точкеэкстремума;д - частота электромагнитнойволны ди = Ое зсю + Ю,Предлагаемый способ определения электронной температурыплазмы поясняется чертежом,где изображено изменение электронной циклотронной частоты цг в пространстве вдоль оси Е (линия А). Вектормагнитного поля награвлен по оси 7 .Фиг,1 соответствует минимуму магнитного поля; фиг,2 - максимуму, Плазмапомещается в магнитное поле с экстремумом, Вдоль оси Е сквозь плазмупропускается электромагнитная волнас частотой ы, представленная линией Б,Фиг,1 соответствует случаю,когда магнитное поле имеет минимумв точке...

Номер патента: 1274028

Опубликовано: 30.11.1986

Авторы: Денисюк, Добролеж, Клименко, Мен

МПК: H01J 37/26

Метки: микроскопе, поверхности, потенциала, растровом, электронном

...устройство работает врефлекторном режиме, т,е. с замкнутой цепью обратной связи. 25При изменении потенциала образца,например, в сторону отрицательныхзначений энергетический спектр вторичных электронов смещается в область более высоких энергий. При этом 30уменьшается глубина высокочастотноймодуляции потока электронов и, соответственно, уровень переменной составляющей сигнала на выходе энергоанализатора. Связанное с этим умень- З 5шение числового значения кода АЦП 11по сравнению с опорным ведет в результате работы цифрового процессора1.: к появлению на выходе ЦАП 13 управляющего сигнала обратной связи, 40который с помощью схемы 14 сравненияизменяет величину постоянной состав-ляющей напряжения задержки на анализирующем электроде 5, смещая...

Номер патента: 1058006

Опубликовано: 30.11.1983

Авторы: Ракитин, Трубин, Циунелис

МПК: H01J 37/26

Метки: микроскопе, поверхности, потенциала, растровом, электронном

...тем,что устройство для измерения потенциала поверхности в РЭМ, содержащееэнергоанализатор,включающий вытяги-вающий и анализирующий электроды, исцинтилляционный преобразовательс фотоэлектронным умножителем, соединенным с одним из входов схемысравнения, выход которой соединенс входом задающего генератора, аляющая.с ФЗУ с определенным коэффициентом, определяемым делителем 13. Принеравенстве сигнала с выпрямителя 10и опорногЬ выходного сигнала схемасравнения регулирует уровень постоян 5 ной составляющей потенциала задержки .на электрод 5 таким образом, чтобывосстановилось равенство сравниваемыхсигналов,Перед началом работы устройство10 измерения настраивается следующимобразом. При разорванной обратнойсвязи и потенциале образца 3 и...

Номер патента: 221353

Опубликовано: 01.01.1968

Авторы: Ефимов, Жесткое, Омелик

МПК: G01M 9/02

Метки: аэродинамических, вакуумных, заданной, потока, температурой, торможения, трубах

...индукционном разряде подогревателя.На чертеже изображена аэродинамическая установка, предназначенная для осуществления описываемого способа.Установка состоит из системы питания 1, подогревателя 2, форкамеры 8, сопла 4, рабочей части б, трубопровода б и вакуумной емкости 7.Сущность способа заключается в следую- щем Рабочий газ с помоподают в высокочастоиндукционный подогредо заданной температурДалее поток посттпачо рабочей части, в котВ подогревателе газ начении через зону выстродного индукционногчает загрязнение потокстпцамп. щью систе тный без ватель, гд ы.ет в форка ором газ р гревают п окочастотн о разряда, а механг питаниялектродный нагревают меру и сопасширяется. ри его истеого безэлекчто исключескими чабы для аналогичных...

Номер патента: 1631625

Опубликовано: 28.02.1991

Авторы: Громов, Карасев, Мартынов, Сочнева

МПК: H01J 29/68

Метки: лучевой, лучом, трубки, электронно, электронным

...На этапе предварительной настройки производится размагничивание колец путем подачи в обмотки колец импульсов тока переменной полярности и постепенно убывающей амплитуды от блока 7. Затем с помощью центрирующего устройства ЭЛТ добиваются получения неискаженного расфокусирован.ного пятна на экране ЭЛТ. К фокусирующей системе подключен источник переменного, тока 50 Гц.Одну пару колец от другой устанавливают на расстояниис/2, гдед-внутренний диаметр кольца,мм. Производят поочередное для каждого кольца последовательное намагничивание до насыщения и размагничивание разнополярными импульсами постепенно убывающей амплитуды на такую величину, чтобы на экране ЭЛТ 6 появилось пятно с ореолом в форме серпа и четко сфокусированными двумя...