Г. я а. п. васюренко и л. и. ендальцев_ вомоювмлятт(иаинлпилтла mfea

Номер патента: 1166013

Опубликовано: 07.07.1985

Авторы: Артеменко, Самойленко

МПК: G01R 27/26

Метки: добротности, измеритель, сверхпроводящих, свч-систем

...элемент 12,исследуемуюсверхпроводящую СВЧ-систему 13,Измеритель добротности сверхпрово 25дящих СВЧ-систем работает следующимобразом. В результате смешивания сигналов эталонного генератрра 9 и СВЧ-гене- ЗО ратора 1 в преобразователе 8 частоты выделяется промежуточная частота, лежащая в диапазоне единиц мегагерц, которая затем подается на один из. входов фазового детектора 7. На другой вход фазового детектора 7 подается сигнал от генератора 6 опорной частоты, работающего в режиме внешнего электронного управления частотой, выходного сигнала, В случае равенства частот на обоих входах фазового детектора 7 напряжение на выходе управляющего элемента 12 равно нулю. Если частота СВЧ-генератора 1, например клистрона, по каким-то причинам...

Номер патента: 186037

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Берников, Бив, Рогаткин

МПК: H01J 23/26, H01J 9/02

Метки: бегущей, волнб1, замедляющих, ламп, навивки, систем, спиральных

...предложенного устройства.Как видно из фиг. 1, в основе устройства лежит навивка спирали ЛБВ, при которой шаг спирали задается принудительно инструментом, имеющим винтовую поверхность, причем в данном случае таким инструментом является калибрующая проволока 1, уложенная на невращающийся керн 2 вплотную виток к витку и образующая, таким образом, калибрующую спираль 3, состоящую из 2 - 10 и болеевитков. При повороте вращающейся детали,предназначенной для навивки, калибрующаяспираль укладывает навивочную проволоку 4,5 калибруя шаг спиральной замедляющей системы б.На фиг. 2 показан вариант устройства, в котором калибрующая проволока б укладывается на невращающийся керн 7 вплотную виток10 к витку с навивочной проволокой 8,Устройство может быть...

Номер патента: 1233016

Опубликовано: 23.05.1986

Авторы: Календерьян, Корнараки, Прохоров

МПК: G01N 21/49

Метки: варианты, дисперсных, комплексного, них, поверхностями, погруженными, систем, характеристик

...установлены в зазорах между лентами датчики 3 статического давления в точках, симметричных тем, гдеразмещены светоизлучаюшие ячейки. Каждое отверстие заподлицо с поверхностьЮ цилиндра (ребер) закрыто сеткой 14, предотвращающей его забивание, и подсоединено к индивидуальному каналу 15 статического давления,5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 который выведен к торцу цилиндра иподключен к измерителю (например,микроманометру).На фиг. 2 представлено устройство,в котором цилиндрснабжен поперечными срезанными ребрами. Ленты нагревателя 4 размещены на ребрах горизонтально, так как основное изменение КТО наблюдается по ходу движения дисперсной среды (т.е. по вертикали).В одном из ребер, расположенномвблизи центрального сечения цилиндра 1,...

Номер патента: 297221

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Иностранец, Иностранна, Лимитед

МПК: H01J 31/20

Метки: арматуры, кинескопа, монтажа, оправка, системы, цветного, электронно-оптической

...оси электродов.Ниже стержня 22 по центру расположен фиксирующий палец 28, который выступает из крышки и входит в область между тремя электронными прожекторами. Вдоль внешней поверхности центрального пальца 23 скользит полая конусная втулка 24. Образующая наружной ее поверхности имеет тот же уклон, равный углу Оь За счет вставленной между крышкой 19 и основанием конусной втулки 24 пружины 25 подвижная конусная втулка 245всегда подвергается воздействию силы, направленной к основанию 8, тем самым надежно удерживая электроды 2 - 5 вместе с поворотным рычагом 14.При монтаже арматуры электронно-оптической системы поворотные рычаги 14 отводятв горизонтальное положение. На каждый изтрех кернов 11, вставленных в конусные отверстия 10...

Номер патента: 502615

Опубликовано: 05.02.1976

Авторы: Йорг, Христиан

МПК: G02B 3/02

Метки: крайней, мере, одной, оптическая, поверхностью, френеля

...у поверхностей Френеля с большой шириной ступени, не требуется точная апланатная коррекция вследствие обусловленной структурой остаточной аберрации, Это означает, что для отдельных линз такого рода, правая часть уравнения (29) не тождественно обращается в О. Если в качестве второй поверхности используется технологически наиболее )простая поверхность(15 а) ф- 1),(й - 2) зо Принимая во внимание(т,х) 12 а(о, о - ц 1 г(23) 65 получают из уравнений (5 Ь) и (11) или (ба)и (12) матричные уравнения В уравнениях (14 а) и (14 Ь) величины ао) и . обозначают образованные из злементов (13 а) или (13 Ь) матрицы.Из уравнений (14 а) и (14 Ь) следует, что отклонения на любой поверхностиили (й), из которых можно вычислить отклонение на любой второй...