Способ определения рассеяния энергии в материале при вибрационном разогреве

Номер патента: 1420466

Опубликовано: 30.08.1988

Авторы: Купчинов, Свиридова, Сергиенко, Фадин

МПК: G01N 11/00

Метки: начала, отверждения, пресс-материалов, температуры, термореактивных

...разца снижается. Температуру, соответствующую началу снижения скорости изменения толщины образца, принимают за О.Температуру плит в зависимости от типа материала, изменяют со скоростью 3 - 1 О К в минуту, При меньшей скорости нагрева плит время прохождения диапазона температур, в котором вязкость материала снижается до минимума, увеличивается, что может привести к полному истечению материала в зазор между плоскопараллельными плитами (фиг. 2), Быстрый нагрев плит увеличивает 55 погрешность измерения Ои, Вследствие ограниченной температуропроводности пресс-материалов увеличение скорости нагрева плит 62неизбежно приводит к увеличению разницы между температурой плит и истинной температурой образца. Потеря деформативности в этом случае...

Номер патента: 1056096

Опубликовано: 23.11.1983

Автор: Трусов

МПК: G01R 33/12

Метки: магнитных, образцах, тороидальных, ферромагнитных, характеристик

...- магнитная индукция в испытуемомобразце;,- время.Использование в устройстве усилителя ,инвертора и иитегросуммирующего усилителя обеспечивает компенсацию в сигнале составляющей от намагничивающего тока г, что позволяет отказаться от применения в известном устройстве специальной измерительной обмотки 1.23 .Недостатком известного устройства является появление значительных погрешностей измерения индукции вследствие изменения температуры провода намагничиваюшей обмотки, Данный эффект особенно заметен при намагничивании испытуемого образца одиночным проводом. Это обусловлено тем, что при повышении температуры увеличивается сопротивление намагничивающего проводника (примерно на 4 Ь при изменении температуры на 10 С) и, следовательно,...

Номер патента: 737822

Опубликовано: 30.05.1980

Авторы: Булах, Миронов, Тонконогов

МПК: G01N 27/24

Метки: активации, активационных, вида, времени, дефектов, диэлектриков, количества, кристаллической, объектов, полупроводников, реализации, релаксации, решетки, энергии

....к изменению 0тока ТСД; позволяя тем самым опреде- .лить параметры дефектов.Цель изобретения достигается двухкратным, измерением тока ТСД. Первоеизмерение тока ТСД проводят в поля-. 65риэованном до насыщения, свободном от напряжений веществе, нагреваемом с постоянной скоростью. При этом ток увеличивается, достигает максимума и спадает, причем каждый вид дефектон характеризуется своей температурой максимума. Повторное измерение тока проводят, подвергнув исследуемый материал механическому сжатию, что выэынает сдвиг максимума тока в сторону более высоких температур, В отличйе от грототипа параметры дефектов определяют ло напряжению сжатия -О температурам максимумов Т и Т тока ТСД соответстненно ненапряжеиного и сжатого материала...

Номер патента: 477076

Опубликовано: 15.07.1975

Авторы: Гринбаум, Повидайло, Силин

МПК: B65G 27/08

Метки: вибрационного, транспортирования

...содержит рабочую и реактив ную массы, Рабочую массу составляют масса лотка 1, укрепленного на раме 2, к которой прикреплены балка 3 с сердечником электромагнитного вибратора 4 и масса якоря 5 одного из двух электромагнитных вибрзторов 6, 30 Реактивную массу составляет масса корпуса 7, масса прикрепленного к нему якоря 8 второго из вибраторов 6 и масса якоря 9 электромагнитного вибратора 4. Рабочая и реактивная массы связаны между собой упругими элементами 10, которые прикреплены к стойкам 11, установленным на опорной части 12. Сердечники электромагнитных двух вибраторов 6 прикреплены к опорной плите 12.Два электромагнитных вибратора 6 вкЛючают в сеть со сдвигом фазы питающего их тока. Один из вибраторов 6 приводит в движение...

Номер патента: 1017959

Опубликовано: 15.05.1983

Авторы: Валиев, Климов

МПК: G01N 3/20

Метки: вязких, пластичных, температуры, хрупкости

...известного устройства является низкая точность определения темПературы хрупкости, обус О ловленная зависимостью срабатывания системы индикации температуры от места, формы или направления тре щины в слое испытуемого материала.Цель изобретения - повышение точ ности. определения температуры хрупкости..Указанная цель достигается тем, что в устройстве для определения температуры хрупкости вязких или пластичных материалов, содержащем термостат, установленные в нем две концентричные трубки с размещенными на них захватами, пластину для нанесения испытуемого материала, размещенную в захватах, и системырегистрации и индикации температуры, система индикации температуры выполнена в виде пьезоэлектрического реле с подпружиненным...