Электронный микроскоп

Номер патента: 294145

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Клевцов

МПК: G02F 3/00, G06F 19/00

Метки: анализа, изображению, объектов, оптическому

...отведенную для параметра в. 20 25 Зо 35 40 45 50 55 60 65 Н - текущее направление (О, О+ЛН, О++2 ЬН,).Для каждой точки отсчета (ХУ); снимается значение Я и сравнивается с зафиксированным ранее Ям; при Рг Ям записываются координаты ХУс,:=, ХУ,.и сигнал й -- )Ям. Таким образом,в р-окрестности обнаруженной точки находится новая точка, в которой сигнал больше, чем в любой из этой окрестности. При этом происходит перемещение репрезентативной точки(Х, У, Р) по поверхности отклика (см. фиг. 4, а), Теперь центром становится найденная точка (ХУ)=)(ХУ)фи вр-окрестности снова идет поиск точки с максимальным ЯьСамонастройка продолжается до тех пор, пока Рм не перестанет увеличиваться. Точка (Х, У, Й) поднимается на локальный максимум Я) макс....

Номер патента: 1643931

Опубликовано: 23.04.1991

Авторы: Белинский, Куковский, Пермяков, Ребрин

МПК: G01C 11/06

Метки: изображения, синтезированного, формирования

...(К) б - сумматор, 7 - блок деления, 8 1блок умножения, 9 - квадратор, 1 О - блок извлечения квадратного корня. Величина шума изображения в единицах оптической плотности может измеряться микроденситометром по фону, окружающему объект, причем измерительная щель микроденситометра имеет размер элемента разрешения соответствующего изображения, Измерение оптической плотности изображения объекта и Фона может осуществляться также микроденситометром или денситометром.Фотографическое изображение представляет собой двумерное случайное поле. К описанию шумов Фотографического иэображения применим математический аппарат, разработанный для описания стационарных случайных функций.умовые свойства черно-белых фотоматериалов полностью описываются...

Номер патента: 928464

Опубликовано: 15.05.1982

Авторы: Акимов, Бобрович, Крутяков, Морковин, Степанов

МПК: H01J 31/00

Метки: мишени, модулятора, света, узел, электронно-лучевого

...Кюри, работает следующим образом.Электронный луч незначительной плотности (сформированный, например, электронным прожектором видикона) сканируют по входной поверхности МКП 2 в виде телевизионного растра. Включение МКП обеспечивает такое усиление электронного входного луча, при ко. тором в выходной части каналов, находящих. ся на пути луча, образуется заряд насыщения. При этом плотность выходного луча из МКП составляет 1 - 1,5 А/см и при сканировании остается постоянной. Потенциалы первой и второй сеток 4,3 и проводящего покрытия 7 под кристаллом на мишени 6 устанавливаются такими, чтобы, с одной стороны, обеспе20 При визуализации положительных ионов, ультрафиолетового или рентгеновского излучения они непосредственно направляются на...

Номер патента: 597030

Опубликовано: 05.03.1978

Авторы: Верцнер, Щетнев

МПК: H01J 37/26

Метки: возможностью, изменения, изображения, микроскопа, узел, формирования, электронного, электронов, энергии

...образца 6, высоковольтный ввод 7, изолятор 8, электрод 9 и обмотку возбуждения 10.При подаче через ввод 7 высокого напряжения на башмак 2 между верхним торцом этого башмака и электродом 9 возникает тормозящее электроны электростатическое поле, которое используется для фокусировки освещаемого электронного пучка в плоскости образца. После прохождения через597030 Формула изобретения образец замедленные электроны ускоряютсяэлектростатическим полем, возникающим между торцами башмаков 2 и 3, до первоначальньх энергий, Это поле, совместно с локализованным в этом же зазоре магнитным полем используется как комбинированный объектив, формирующий первичное изображение образца,Узел дает возможность улучшить качество изображения за счет снижения...

Номер патента: 661648

Опубликовано: 05.05.1979

Авторы: Голубев, Трифонов

МПК: H01J 37/28

Метки: изображения, микроскопе, объекта, растровом, формирования, электронном

...после Фильтрации; е в . эпюра сигнала, полученного при суммировании сигнала, представленного наэпюре в с сигналом, представленным на эпюре д штрих-пунктирной линией.На фиг,З показан фронт импульсного сигнала ат какого-либо элемента поверхности объекта при сканировании его периодически расфокусируемым электронным зондом, где: Б - результирующий сигнал с объекта при воздействии,на него периодически расфокусируемым электронным зондом; Р сигнал с объекта при воздействии на него сфокусированным зондом; Ч сигнал с объекта при воздействии на него расфокусированного зонДа,Электронная пушка 1 имитирует пучок электронов, который формируется системой 2 в электронный зонд малого диаметра и фокусируется на поверхность объекта 3. Сканирование зонда...