179070

Номер патента: 678945

Опубликовано: 15.02.1991

Авторы: Грачев, Майоров, Орлов, Петухов

МПК: G01N 23/18

Метки: вращения, глубины, дефектов, залегания, телах

...по этой формуле.Кроме того этот метод приводит к увеличению расхода радиографической пленки.Цель изобретения - экономия радио- графической пленки и упрощение обработки результатов.Поставленная цель достигается тем, что изделие в течение. экспозиции поворачивают вокруг собственной оси на 360 ф. В результате вращения иэделия дефекты перемещаются относительно радиографической пленки, вследствие чего их изображения на снимке принимают вид полос. В этом случае глубина залегания дефектов соответствут расстоянию от границы изображения изделия до границы вышеописанной полосы.Изображения дефектов, расположенных в одной плоскости, перпендикулярной оси вращения иэделия, будут представлять собой наложение полос, отличающихся друг от друга...

Номер патента: 1661640

Опубликовано: 07.07.1991

Автор: Словинский

МПК: G01N 29/08

Метки: глубины, дефекта, залегания, контроле, теневом, ультразвуковом

...через изделие УЗ-колебаний производят в ходе сканирования приемного преобразователя по пло 40 45 точек образования минимумов номера и оп(10) 50 5 10 15 20 25 30 35 скости М изделия при выполнении условия значительного превышения минимально возможного расстояния между дефектом О и приемным преобразователем величины б. Для таких условий выполняются следующие равенства, = г; (3)д : фд, (4)г = г соз фд, (5) где гд - радиус вектора от центра дефекта до точки А приема на плоскости М сканирования;Хд - расстояние от точки А приема по плоскости М до центра "теневой" зоны за дефектом;рд - угол между радиусом-вектором гд и волновым вектором к излучаемых волн,Излучение осуществляют в непрерывном или квазинепрерывном режиме таким образом,...

Номер патента: 165823

Опубликовано: 01.01.1964

МПК: G01R 33/02

Метки: индукции, магнитной, магнитных, неоднородных, полей

...магнитной индукции неоднородных магнитных полей, основанный на взаимодействии рамки с током с измеряемым Подписная группа79 Известны способы измерения магнитной индукции неоднородных магнитных полей, основанные на взаимодействии рамки с током с измеряемым магнитным полем.Предложенный способ отличается от изве стных тем, что сравнивают два вращающих момента, действующих на две жестко скрепленных рамки, одну из которых помещают в измеряемое поле, а другую - в образцовое. Это дает возможность повысить точность из мерения и исключает погрешность от влияния изменения температуры.На чертеже изображена схема, иллюстрирующая предложенный способ.Две измерительные рамки 1 и 2 жестко за креплены на одной оси 3, которая может вращаться на...

Номер патента: 168478

Опубликовано: 01.01.1965

Автор: Лурье

МПК: G06G 7/44, G06G 7/62

Метки: вихревого, моделирования, поля

...енной н ысокого дпасная группа1 б Предложенное устроизвестных тем, что кондответствующие числу зоматора с одинаковой ивающей силы, подключаменного напряжения челичина которых регулиркостные токи каждогобыли пропорциональнымагничивающим силамформатора, Это позвсложные вихревые мамер, двух- и многообморов, имеющих зоны истраспределенной интенси имеющую зоны 7 - 12 намагничивающей силы различнои плотности 1 Я 7, 1 ф1 КедГраницы листа электропроводной бумаги 13 (фиг. 2), являющегося полем модели, соответствуют ферромагнитным поверхностям оригинала, т. е. линиям стержня 14, стенок бака 15, линиям прессующих балок 1 б и прес- сующих колец 17. Лист электропроводной бумаги наклеен на диэлектрик 18; число электродов 19 из...

Номер патента: 693235

Опубликовано: 25.10.1979

Авторы: Азанчеев, Пименов, Скирда, Стежко

МПК: G01N 27/78

Метки: величины, градиента, импульсного, магнитного, поля

...градиента больше чем у прямоугольного; сигнал 14 епинового эха в магнитном поле только с естественной однородностью. Процесс определения амплитудного значения импульсного градиента заключается в следующем. Образец, представляющий спин-систему, помещают в постоянное магнитное поле с заданным значением до постоянного градиента 1, затем подают на образец 90-й радиочастотный импульс 2, после чего воздействуют исследуемым импульсным градиентом 3, направление которого, в отличии от прототипа, может совпадать с направлением нсстоянного гралмещта, либо быгь противоположным. Затем ва образец в момент времени г двьолицтевьво во зле йс гв уют 18 О-м р адщочаст агам импульсом 4 и импульсным градиентом 5 идентичным 3, После такого...