173839

Номер патента: 1048439

Опубликовано: 15.10.1983

Авторы: Волкова, Камшилин, Кравченко

МПК: G01V 3/02

Метки: вариаций, временных, земли, сопротивления, удельного

...в данном,случае помехой),пикулярной границе раздела симметрично относительно питающего источника рес . положенного вблизи границы,2Цель изобретения - повышение,точности измерений.Поставленная цель достигается тем,что согласно способу измерения вреаенных вариаций удельного сопротивленияЗемли, заключающемуся в том, что процускают в Землю ток через цва тачвчныхисточника первый иэ которых располагают вблизи вертикальной границы раздела пвух различных по сопротивлениюсредопрецеляют положение оцной иээквипотенциельньк линий электрическогополя и по изменению разности потенциаловизмерительных электропов, расположенныхна этой линии, регистрируют временные.вариации удельного сопротивления, измерительные электроды располагают цо касатетьной к...

Номер патента: 1697020

Опубликовано: 07.12.1991

Авторы: Аксельрод, Щигловский

МПК: G01R 29/12

Метки: времени, диэлектрика, заряда, объемного, постоянной, релаксации

...постоянная времени т ЕоН 2т =теО(10) Величина те может быть определена как при возрастании иапрякенности поля у электрода, так и при убываии после замыкания между собой электродов.На чертеже приведено устройство, реализующее способ. и связи напряжения О с напряженностями полей в диэлектриках0 = Е 1 Н 1+ ЕН 2 (5) дает выражение для напряженности Е ао вспомогательном диэлектрике и, соответственно, на прилегающем электродеУстройство содержит исследуемый диэлектрик 1, плоско-параллельные электроды2 и 3, вспомогательный диэлектрик 4, переключатель 5, стабилизированный источник6 напряжения, датчик 7 напряженности 5электрического поля, выполненный в видеизолированного ат электрода 2 металлического электрода, вычислительный блок...

Номер патента: 1020788

Опубликовано: 30.05.1983

Авторы: Жуков, Лошкарев, Мусатов, Улимов

МПК: G01R 31/26, H01L 21/66

Метки: базе, времени, жизни, заряда, неосновных, носителей, транзистора

...с . через баверзу транзистора и коэффициент передачи тока змиттера сС транзистора, включенного по Схеме с общей базой и вычисляют время жизни неосновных носителей в базе по формуле(1) ф " эффетивность эмиттера,коэффициент переноса носктелей, определяемый по фор.муле пер 1.5 фчРч(2) о; - коэффициент размноженияв коллекторе. Недостаток способа заключается в том, что из формул 1 и 2 получают некоторое усредненное значение времени жизни Т, так как константа р состоит из двух составляющих рчопределяемое рекомбинацией носителей в объеме базы, 5 - определяемое рекомбинацией на поверхности базовой области р = рч р . Формула 1 преобразуется в вйд Для более точного определения объемного времени жизни неосновных носителей в базе транзистора...

Номер патента: 447765

Опубликовано: 25.10.1974

Авторы: Бруштейн, Воловик, Гусев, Исаков, Пшеничный

МПК: H01G 3/09

Метки: диэлектриком, долговечности, емкости, керамическим, конденсаторов, низковольтных, постоянной, разрушения, типа, электрических

...сокращения времени определения долговечности конденсаторов, конденсаторы нагревают до предельно допустимой рабочей температуры, подают на них напряжение звуковой частоты, измеряют тангенс угла потерь на этой частоте, обусловленной током проводимости диэлектрика, и по его величине определяют долговечность контролируемых образцов конденсаторов.Для определения долговечности конденсаторы нагревают до предельно допустимой установившейся температуры, затем подают на них напряжение звуковой частоты (50 - 100 гц) и производят измерение тангенса угла потерь, по величине которого определяют долговечность конденсаторов, пользуясь при этом предварительно полученной для данного конкретного типа конденсатора зависимостью между долговечностью и...

Номер патента: 919486

Опубликовано: 30.08.1983

Авторы: Захаров, Настаушев

МПК: H01L 21/66

Метки: времени, генерационного, жизни, заряда, мдп-конденсаторах, неосновных, носителей

...частоты для исключения влияния помех. Целью изобретения является повы"шение производительности и точностиустройства.Цель. достигается тем, что в устройстве для определения генерационного времени жизни неосновных носителей заряда в МДП-конденсаторе,содержащем усилитель высокой частоты с амплитудным детектором, генератор импульсов, генератор высокойчастоты, стробоскопический детектор,два выхода которого соединены с входами самопишущего потенциометра,схему синхронизации, первый выход 55 которой соединен с первым входом стробоскопического детектора, а второйвыход соединен с генератором импульсов, выход которого соединен с пер486Устройство работает следующим образом.Импульсное напряжение с выходагенератора 1 через разделительнуюсхему 11...