Способ отбора алмазов для детекторов ионизирующих излучений
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Описание
1. Cпособ отбора алмазов для детекторов ионизирующих излучений, включающий облучение алмаза с электродами в электрическом поле ионизирующим излучением, нагрев образца после снятия электрического поля с одновременной регистрацией тока термостимулированной деполяризации - ТСД, сортировку образцов алмаза по величине пиков тока термостимулированной деполяризации с температурами максимумов в интервалах 400-440 и 460-480 K, отличающийся тем, что, с целью повышения точности отбора, перед облучением алмаза ионизирующим излучением образец предварительно с помощью электродного материала приводят в контакт с теплопроводом, нагревают до 550-600 K и охлаждают до 370-390 K.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что скорость нагрева выбирают 0,6±0,06 K/с, напряженность электрического поля - 500±50 В/см, дозу ионизирующего излучения - 1000±300 Р, пороговое значение для плотности тока ТСД - (2,0-3,0)×10 -13 А/см2.
Заявка
4761814/25, 02.10.1989
Борзенко С. Ю, Мартынов С. С, Мухачев Ю. С, Татаринов В. С, Хрунов В. С
МПК / Метки
МПК: G01T 1/24
Метки: алмазов, детекторов, излучений, ионизирующих, отбора
Опубликовано: 10.09.2013
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-1644638-sposob-otbora-almazov-dlya-detektorov-ioniziruyushhikh-izluchenijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ отбора алмазов для детекторов ионизирующих излучений</a>
Предыдущий патент: Способ отбора алмазов для детекторов ядерного излучения
Следующий патент: Способ спектральной апконверсии оптического излучения
Случайный патент: Штепсельное двухполюсное соединение