Устройство для плавного ослабления лазерного излучения

Номер патента: 573107

Опубликовано: 15.05.1979

Авторы: Жиглинский, Парчевский, Путилин, Эльснер

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, фильтр

...слоев диэлектриков,Промежуточный слой выполнен многослойным потому, что простое увеличение толщины его невозможно, так каквещества, применяемые для созданияинтерференционных фильтров в видимойобласти спектра (сернистый цинк ЕпЯ,,0033 700 Сернистый цинк,криолит 93 17,Н Н 4 В 4 НЕЕВ 0038 0,91 рнистый цинкиолит и космиче спектральнаниях. астрономии ких исслед ормула изобретения аз 2759/67Подпи сн ое ЦНИИПИ 3Тираж 587 2 зкриолий ИаИГ, фтористый магний М 9 Г 2), при толщинах более 1,5 мкм растрескиваются. Путем же использования промежуточной системы из чередующихся слоев диэлектриков, оптическая толщина которых кратна половине длины световой волны, можно получить промежуточный слой с большой эффективной толщиной и в соответствии с...

Номер патента: 685996

Опубликовано: 15.09.1979

Авторы: Голубева, Рожнов, Степуро, Черемухин

МПК: G02B 5/28

Метки: интерференционный, узкополосный, фильтр

...интерференции - очень большим. В-третьих, усложняется эксплуатация фильтра; появ ляется необходимость в контроле за клиновидностью расстояния между подложками с зеркалами с помощью сложной оптико- электронной схемы.Целью изобретения является получение интерференции порядка 1 в 1 в видимой области спектра.Это достигается тем, что в предлагаемом фильтре на поверхностях подложек выполнены углубления, а отражающие слои нанесены на плоские основания этих углублений, 20 параллельные исходным поверхностям подложек.На чертеже показан описываемый фильтр, содержащий (прозрачные) подложки 1, 2 с углублениями 3, 4, на основаниях которых 45 напылены зеркала 5, 6. Поверхности подложек отполированы с высокой точностью и соединены на оптическом...

Номер патента: 1186049

Опубликовано: 23.02.1991

Авторы: Казак, Лугина, Миклавская, Надененко, Павленко, Санников

МПК: H01S 3/00

Метки: излучения, лазерного, пучков, расходимости

...и нсследуемого лазера образуют уголс диагональной гранью анализатора, %, ( К(%, где 3 и К - углы ПВО соответственно для обыкновенного и необыкновенного лучей на длине волны лазера-гетеродина. Такой выбор диапазона угловобусловлен тем, что на диагональной грани поляризационной призмынеобходимо удовлетворить условию: необыкновенная волна должна проходить через диагональную грань с минимальными потерями на отражение,обыкновенная волна - испытывать полное внутреннее отражениеЕслисСф , то излучение лазера-гереродннане полностью отражается от диагональной грани поляризационной призмы,в результате чего увеличиваются по-тери на отражение. При ф,( Т излученне исследуемого лазера испытывают на указанной грани полное Внутреннее отражение и не...

Номер патента: 1493046

Опубликовано: 10.07.1996

Авторы: Дашкевич, Тюшкевич

МПК: H01S 3/082

Метки: генерации, излучения, импульсов, лазерного

1. Устройство для генерации импульсов лазерного излучения, содержащее задающий и исполняющий лазеры, оптически связанные между собой, блоки накачки активных элементов которых синхронизированы, а спектральные диапазоны излучения обоих лазеров перекрываются, в резонаторе исполняющего лазера установлен активный затвор, электрически связанный с блоком управления, вход которого соединен с фотоэлементом, оптически связанным с активным элементом задающего лазера, отличающееся тем, что, с целью стабилизации частоты выходного излучения, перед фотоэлементом установлен спектральный фильтр, пространственно разделяющий излучение задающего лазера по длинам волн в области перекрытия спектра задающего лазера со спектром исполняющего лазера.2....

Номер патента: 189084

Опубликовано: 01.01.1966

Авторы: Гуськов, Рубанов

МПК: G02B 5/28, G03B 11/00

Метки: интерференционный, оптический, фильтр

...структурная схемафильтра.Фильтр содержит интерферометр 1 ФабриПеро (ИФП) с переменной длиной оптиче ского пути, объектив 2, диафрагму д, светопроводы 4 из оптических волокон, фотоприемники 5, электронный амплитудный разделит ль 6, преобразующие элементы 7 цепи обратной связи, исполнительное устройство 8 О цепи обратной связи.Работа интерферометра фильтра происходит следующим образом. Сигнал, подлежащий фильтрации, направляют на ИФП. Измерением длины оптического пути вручную или 5 автоматическим поиском через исполнительное устройство добиваются в интерференционной картине наибольшей интенсивности центрального максимума. Первое интерференционное кольцо должно при этом находиться О на границе раздела световодов.11 ри изменении...