Способ определения жесткости гамма-излучения

Номер патента: 884418

Авторы: Авраменок, Левченко, Овчинников

Описание

Способ определения жесткости гамма-излучения, состоящий в том, что измеряют распределение поглощенной дозы гамма-излучения у поверхности раздела двух сред с различными атомными номерами, а после математической обработки дозиметрической кривой определяют спектр вторичных электронов, который приравнивают к осредненному спектру гамма-излучения, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазона и повышения точности определения жесткости гамма-излучения, измеряют по крайней мере две дозиметрические кривые у границы раздела двух поглотителей, одним из которых являются металлические фольги с разными толщинами и атомными номерами, причем толщину первой из них выбирают равной экстраполированному пробегу электронов в фольге Rэ (Е, Zф) со средней энергией Е из всего спектра вторичных электронов, а последующих - в пределах (0 - 0,5) Rэ (Е, Zфi), где Zфi = (2 - 20) Zn - атомный номер i - ой фольги и Zn - атомный номер поглотителя.

Заявка

2905462/25, 04.04.1980

Красноярский государственный университет

Левченко В. М, Овчинников А. П, Авраменок А. К

МПК / Метки

МПК: G01T 1/36

Метки: гамма-излучения, жесткости

Опубликовано: 20.07.1999

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-884418-sposob-opredeleniya-zhestkosti-gamma-izlucheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения жесткости гамма-излучения</a>

Похожие патенты