Способ атомно-флуоресцентного анализа

Номер патента: 1326905

Опубликовано: 30.07.1987

Автор: Рчеулишвили

МПК: G01J 3/42

Метки: анализа, атомно, атомно-флуоресцентного, спектрометр, флуоресцентный

...системы).На цертеже изображен атомно-флуоресцентный спектрометр.Атомно-флуоресцентный сиектрометр содержит источник света 1, излуцающий возбуждаюгций флуоресценцию свет, флуоресцентную ячейку 2, оптический затвор 3, монохроматор 4, фотодетектор 5, полосовой усилитель 6, усиливающий сложный сигнал, полученный от фотодетектора 5, коммутатор 7, посылакощий полуценный сигнал то в узкополосный усилитель (фазовый детектор) 8 основной сигнал, то в узкополосный усилитель (фазовый детектор) 9 сигнал срав.нения, Фазовый детектор 9 соединен с блоком 10, корректирующим амплитуду основного сигнала ио отношению к амплитуде 40 сигнала сравнения. Фазовые детекторы 8 и 9соединены с блоком 11 вычитания, вычитающим из основного сигнала сигнал...

Номер патента: 947057

Опубликовано: 30.07.1982

Авторы: Аранович, Варварица, Деды, Мамиконян, Нагорный, Рамазанов, Филатов

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, рентгенорадиометрического, флуоресцентного

...соединен с устройством вращения пластин 1, а последнееподключено к одному из выходов блокауправления,Устройство работает следующим образом,.При включении таймера вклюцаетсяустройство вращения рассекателя пробы. При этом происходит взаимное дви.жение анализируемого материала и рассекателя. Часть материала, котораянаходится в зоне анализа, замещаетсяв этой зоне новой частью, так чтоза время измерения в зону анализа попадает практически весь объем анализируемого материала.На фиг. 1 приведена схема устройства; на Фиг. 2 - градуировочная зависимостьАнализируемая проба насыпается вцилиндрическую кювету, 1., Внутрь кю"веты помещен рассекатель в виде двухизогнутых пластин 2,Кювета крепится в держатель 3,установленный в подшипниках. При...

Номер патента: 552544

Опубликовано: 30.03.1977

Авторы: Бродский, Варварица, Евтушенко, Мамиконян, Мельтцер, Филатов, Яковлев

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, рентгенорадиометрического, флуоресцентного

...концентрации аналнзи руемого элемента судят по отношению разности интенсивности характеристического излучения анализируемого элемента пробы и мишени к интенсивности излучения, рассеянного пробойгде У, - интенсивность характеристического излучения анализируемого элемента пробы;У; - интенсивность характеристического излучения анализируемого элемента мишени;Ж, - интенсивность излучения, рассеянногопробой;К в коэффициент пропорциональности.Характеристическое излучение мишени возбуждается излучением примесных элементов, К-скачки поглощения которых расположены между энергией возбуждающего излучения и энергией флуоресцентного излучения анализируемого элемента, причем степень возбуждения зависит от количества примесных элемен- тов. Интенсивность...

Номер патента: 958933

Опубликовано: 15.09.1982

Авторы: Бродский, Варварица, Филатов

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, рентгенорадиометрического, флуоресцентного

...условии а ага в а,гаг,Ф О.40 Эффективность возбуждения определенной серии характеристического излучения поктимп/с Концентрация, Р, 3 Концентрация,0 3; имп/сЗаданная Измеренная Заданная Измерен- ная 1029 бй 4,8932,3 652,267 792,51173 842,21313 937,2 б .58 ч 7 6,88 8 8,11 9 9,1210 10,15 10 10,48б 6,15 8,52 6,83 7,61 где а, а, ага, агг - постоянные коэффициенты;Система уравнений (1) имеет единственное решение: током альфа-частиц увеличивается с умень шением атомных номеров элементов, при возбуждении гамма- или рентгеновским излучением имеет место противоположная зависимость. Поэтому в случае, когда перекрывающиеся аналитические линии относятся к одной серии характеристического излучения, т. е. принадлежит близким по атомным номерам...

Номер патента: 270104

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Нитц, Объединенный

МПК: G01T 1/29, H01J 47/00

Метки: волнна, временной, зависимости, образце, рассеяния, частиц, электромагнитнь1х

...зависимость интенсивности от длительности 1, импульса поля; кривая , характеризующая зависимость производной от интенсивности.При измерении, например, временной зависимости рассеяния, представленной на кривой 1, заключающемся в измерении скорости счета упруго- или неупругорассеянных частиц с помощью какого-либо устройства следует воздействовать на образец периодически меняющимся полем, как показано на кривой 2. Такое изменение поля приводит к зависимости рассеяния от времени (типа кривой 3), отражающей частичный переход образца в новое состояние за время 1, и быстрое возвращение в исходное состояние с сечением ас под действием импульса поля Нс и т. д. Проводя измерения с различными значениями 1, и учитывая вклад от рассеяния в...