Способ определения параметров плазмы
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Описание









где

Dа(Т) - коэффициент диффузии;
h(Т) - коэффициент прилипания;
а - 3,18


Nlo - концентрация электронов в стационарной плазме;

L - размер плазменного образования в направлении зондирования;
t - момент времени.
Заявка
3714915/09, 27.03.1984
Институт радиотехники и электроники АН СССР
Маречек С. В, Поляков В. М, Тищенко Ю. Г
МПК / Метки
МПК: G01N 22/00
Метки: параметров, плазмы
Опубликовано: 27.08.2000
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1301118-sposob-opredeleniya-parametrov-plazmy.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения параметров плазмы</a>
Предыдущий патент: Способ создания кавитации в жидкости в условиях высоких или низких статических давлений
Следующий патент: Устройство для крепления закрылка
Случайный патент: Уплотнение манжетного типа