Способ определения параметров плазмы

Номер патента: 1301118

Авторы: Маречек, Поляков, Тищенко

Описание

Способ определения параметров плазмы, включающий измерение интенсивности собственного радиоизлучения исследуемой стационарной плазмы на двух частотах i, по которым определяют концентрацию электронов и частоту их столкновения, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей путем определения параметров распадающейся плазмы и их температурной зависимости, значения частот i выбирают из условия i 0, где 0 - плазменная частота стационарной плазмы, дополнительно измеряют интенсивность Тя(t) собственного радиоизлучения исследуемой плазмы в процессе ее распада, по измеренным величинам определяют временную зависимость термодинамической температуры плазмы Т(t), а параметры распадающейся плазмы определяют по формулам



где (T) - коэффициент электрон-ионной рекомбинации;
Dа(Т) - коэффициент диффузии;
h(Т) - коэффициент прилипания;
а - 3,18 109;
- диффузионная длина;
Nlo - концентрация электронов в стационарной плазме;
- частота столкновений электронов;
L - размер плазменного образования в направлении зондирования;
t - момент времени.

Заявка

3714915/09, 27.03.1984

Институт радиотехники и электроники АН СССР

Маречек С. В, Поляков В. М, Тищенко Ю. Г

МПК / Метки

МПК: G01N 22/00

Метки: параметров, плазмы

Опубликовано: 27.08.2000

Код ссылки

<a href="https://patents.su/0-1301118-sposob-opredeleniya-parametrov-plazmy.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения параметров плазмы</a>

Похожие патенты