Желбакова
Устройство для измерения электри-ческих параметров матричных электрон-ных элементов
Номер патента: 811159
Опубликовано: 07.03.1981
Авторы: Андреев, Желбакова, Малютин, Шуленин
МПК: G01R 31/26, G01R 31/27
Метки: матричных, параметров, электри-ческих, электрон-ных, элементов
...5 подключенный к невыбранным строкамматрицы через коммутатор.На фиг. 1 представлена схема устройства; на фиг, 2 поясняется процесс измерения.0 На схеме изображены объект контроля 1,коммутатор 2, блок задания режима 3, измерительный прибор 4, блок управления 5 и источник опорного напряжения 6.Устройство работает следующим обра зом.Блок управления 5 поочередно подключает через коммутатор 2 выбранный столбец и выбранную строку матрицы 1 к блоку задания режима 3 и измерительному 0 прибору 4. Невыбранные строки подсоединяются к источнику опорного напряжения 6, полярность которого противоположна полярности напряжения на измеряемом диоде.Величина опорного напряжения равна ожи даемому падению напряжения на измеряемом диоде. Блок задания...