Устройство для измерения электри-ческих параметров матричных электрон-ных элементов

Номер патента: 811159

Авторы: Андреев, Желбакова, Малютин, Шуленин

ZIP архив

Текст

И СА Н И Е 1)ЗШ 59 Союз Советских Социалистических Республик(22) Заявлено 27,10.77 (2 присоединением заяв Государственный комитет(43) лом изобретений ликован открытий(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ АРАМЕТРОВ МАТРИЧНЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ ЭЛЕМЕНТО Изобретение от электрических испь вых диодов и дио быть использовано, рении электрическ ных электронных элИзвестны устрой электрических па элементов, состоящ жима и измеритель ройства не рассчит рических параметро к технологии полупроводникоатриц и может ости, при измеаметров матричноситсятанийдных мв частиих парементов.ства 1 для измерения раметров электронных ие из блока задания реного прибора. Эти устаны на измерение электв диодных матриц. Ближайшим известным техническим решением является устройство 2 для измерения электрических параметров диодных матриц, содержащее коммутаторы строк и столбцов, блок задания режима, измерительный прибор и блок управления. Однако оно не обеспечивает высокой точности измерений, так как при измерении параметров матричных электронных элементов большой степени интеграции - диодных матриц - ток от блока задания режима разветвляется через измеряемый диод и через суммарное обратное сопротивление всех диодов невыбранных столбцов и невыбранных строк, в результате чего изменяется режим измерения и увеличивается погрешность измерения,Целью настоящего изобретения являетсяувеличение точности измерения, Поставленная цель достигается тем, что в устройство введен источник опорного напряжения, 5 подключенный к невыбранным строкамматрицы через коммутатор.На фиг. 1 представлена схема устройства; на фиг, 2 поясняется процесс измерения.0 На схеме изображены объект контроля 1,коммутатор 2, блок задания режима 3, измерительный прибор 4, блок управления 5 и источник опорного напряжения 6.Устройство работает следующим обра зом.Блок управления 5 поочередно подключает через коммутатор 2 выбранный столбец и выбранную строку матрицы 1 к блоку задания режима 3 и измерительному 0 прибору 4. Невыбранные строки подсоединяются к источнику опорного напряжения 6, полярность которого противоположна полярности напряжения на измеряемом диоде.Величина опорного напряжения равна ожи даемому падению напряжения на измеряемом диоде. Блок задания режима 3 при измерении прямого падения напряжения на диоде матрицы 1 задает ток через измеряемый диод, а измерительный прибор 4 показывает значение прямого падения напря811159 Формула изобретения Фиг, Я ставитель А. Пурцхвани Техред Л. Куклина диктор Б, ФедотовКорректоры: Л. Орловаи Н. федорова Заказ 222/6 Изд.172 Тираж 749 Подписное ПО аПоиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунов жения на диоде, Подключение к невыбранным строкам матрицы 1 источника опорного напряжения 6 и выполнение условияУоп = ИРгде Уоп - опорное напряжение;УР - напряжение на диске,практически позволяет получить равенство токов 1 = Ь, т. е. сохранить заданный режим измерения и получить меньшую погрешность измерения. Устройство для измерения электрических параметров матричных электронных элементов; содержащее коммутаторы строк и столбцов, блок задания режима, измерительный прибор и блок управления, о тл ичающееся тем, что, с целью увеличения точности измерения, в устройство введен источник опорного напряжения, подключенный к невыбранным строкам матрицы через коммутатор. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1 о 1. ГОСТ 18986-73, Полупроводниковыедиоды. Методы и измерения электрическихпараметров.2. Андреева Э. Методы и установка контроля статических параметров диодных мат 15 риц, в сб. Автоматизация измерений параметров полупроводниковых приборов, Рига, 1969, с. 25 (прототип),

Смотреть

Заявка

2538191, 27.10.1977

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4677

АНДРЕЕВ СЕРГЕЙ НИКОЛАЕВИЧ, ЖЕЛБАКОВА ЕЛЕНА ВИКТОРОВНА, МАЛЮТИН НИКОЛАЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, ШУЛЕНИН ЕВГЕНИЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 31/26, G01R 31/27

Метки: матричных, параметров, электри-ческих, электрон-ных, элементов

Опубликовано: 07.03.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-811159-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-ehlektri-cheskikh-parametrov-matrichnykh-ehlektron-nykh-ehlementov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения электри-ческих параметров матричных электрон-ных элементов</a>

Похожие патенты