Техня
Способ определения парциальных толщин многокомпонентных пленок
Номер патента: 194198
Опубликовано: 01.01.1967
Авторы: Малахов, Техня
Метки: многокомпонентных, парциальных, пленок, толщин
...Предмет и зоб ния Изобретение отн Я ядерной структуры я вещества и измереншего излучения.Известны способы измерения парциальных толщин однокомпонентных пленок, согласно которым пленку облучают заряженными частицами и по измеренному выходу резерфордовского рассеяния от ядер пленки определяют парциальную толщину пленки.Если же сечения упругого рассеяния заряженных частиц на ядрах элементов пленки известны, то парциальные толщины определяют по площадям пиков в спектре этих частиц.Описываемый способ состоит в том, что исследуемые пленки берут в количестве, равном количеству компонентов пленки, измеряют выход резерфордовского рассеяния частиц на ядрах компонентов, измеряют площади пиков в спектре упругого рассеяния заряженных частиц на...
Устройство для прекращения хроматографическогопроцесса
Номер патента: 169281
Опубликовано: 01.01.1965
Авторы: Березников, Древуш, Техня, Чернов
МПК: G01N 30/95
Метки: прекращения, хроматографическогопроцесса
...выход которых подключен к исполнительному механизму,На чертеже изображено предложенное устройство для прекращения хроматографического процесса.Устройство содержит цилиндрическую камеру 1 для нисходящей хроматографии, внутри которой расположена ванночка 2 с углублением по нижней образующей, Хроматографическая бумага 3 опущена в растворитель и прижата стеклянной пластинкой 4,В устройстве имеется дифференциальный фотометр, выполненный из двух светопроводов 5, расположенных один под другим, и двух фотоэлементов 6. Световой поток от лампы 7 через светопроводы попадает на фотоэлементы, Светопроводы имеют зазор, в который пропущена хроматографическая бумага, В начале процесса световые потоки, падающие на ф - 5 тоэлементы, равны. При входе...