Талалуев

Номер патента: 1753427

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Бучко, Витер, Мудрак, Стеченко, Талалуев, Татарников, Трегуб, Чернычук, Юрченко

МПК: G01R 27/06

Метки: измеритель, ксвн, мощности

...сигнала, поступающего на второй вход усилителя (нелинейность диода 19 также определяется температурой окружающей среды как и диодов 13 и 14),В итоге приблизительно на порядок повышается точность измерения малых ВЧ напряжений.В устройстве отсутствуют гальваниче. ские источники питания, что обеспечивае возможность его работы при низких температурах окружающей среды. Необходимый для питания активной схемы ток (порядка 100 мкА) получается путем отбора и выпрям. ления ВЧ сигнала в линии передачи, Благодаря включению ограничителя на резисторе 12 и емкости 33, диоды 15 и 16 отбирают нс более Зо, мощности ВЧ сигналачто незначительно снижает точность измерения мощности и КСВН, В итоге выигрыш в повы-" шении точности за счет активной схемы из....

Номер патента: 1410062

Опубликовано: 15.07.1988

Авторы: Стеченко, Талалуев, Татарников

МПК: G06G 7/16

Метки: высокочастотных, напряжений, перемножения

...сигнал-сомкожитель с входа7 через делитель мощности 1 поступаетна затворы первого и второго полевыхтранзисторов 2 и 3, модулируя сопротивления каналов. Первый сигнат 1-самножитель с входя 8 через симметрчрующий трансформатор 6 с первой и второйвторичных обмоток подается на стокисток первого и второго полевых транзисторов 2 и 3, За счет симметрирующего трансформатора 6 напряжение перного сигнала-сомножителя на стоке иистоке одинаково по амплитуде и противоположно по фазе, Напряжение назатворе при этом равно половине напмряжения исток - сток, поэтому праводимости каналов транзисторов 2 и 3меняются линейно под воздействиемвторого сигнала-сомнажителя, Постоянная составляющая тока в канале пропорциональна произведению...

Номер патента: 1177735

Опубликовано: 07.09.1985

Авторы: Абдрахманов, Егоров, Талалуев

МПК: G01N 27/84

Метки: дефектоскопии, эталонов

...относится к площади пластины как 1:30.1177735 Составитель И.РекуноваТехред Л.Микеш Корректор А,Зиь окосов Редактор И.Николайчук Заказ 5546/44 Тираж 897 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий13035, Иосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Филиал 1 П 1 П "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий и предназначено для метрологического обеспечения дефектоскопической аппаратуры, а именно для выявления поверхностных дефектов в капиллярной и магнитно- порошковой дефектоскопии с помощью эталонов.Цель изобретения - получение радиально направленных микротрещин.На чертеже представлена схема осуществления способа. Схема содержит...