Скворчук
Устройство для высокоскоростного рентгеноструктурного анализа
Номер патента: 763750
Опубликовано: 15.09.1980
Авторы: Бурдин, Карпов, Свинаков, Скворчук
МПК: G01N 23/207
Метки: анализа, высокоскоростного, рентгеноструктурного
...оси вращения анода, а электронно- оптическая ось источника смещена относительно оси вращения анода. Кроме того, устройство содержит Х детекторов излучения и Й неподвижно уста-. новленных перед детекторами на фокусирующей окружности щелевых диафрагм.Такое выполнение устройства приводит к тому, что при перемещении фокуса по фокусирующей окружности перемещается вся рентгенограмма по этой же окружности, что обуславливает безынерционность заявляемой системы н таким образом позволяет по-. ЭЬ нии пространственно-временного положения интерференционных линий.На чертеже показана функциональная схема предлагаемого устройства для рентгеноструктурного анализа.Устройство содержит источник рентненовского излученияс вращающимся анодом 2, зеркало...
Устройство для определения теплоемкости материалов
Номер патента: 717638
Опубликовано: 25.02.1980
Авторы: Гуревич, Евпрев, Золотухин, Лариков, Носарь, Скворчук
МПК: G01N 25/20
Метки: теплоемкости
...= - : сопвДТс 31При этом в соответствии с определением; Нслучае выделения или поглощениятепла в исслецуемом образце, например,вследствие протекания фазовых превращений в материале, происходит отклонениетемпературы от заданной на величину ьТза счет термической инертности системы,При этом без введения коррекции температурная зависимость теплоемкости находится в соответствии с изменением измеряемой мощностью обогрева Р (И ) искоростью нагрева Ь (1): где ат - отклонение температуры от программной.Истиннбе значение температурной зависимости теплоемкости дается выражением:срт)-слт(3)Коррекцию измеряемой величины Р И) по производной от аТ проводят при,дОс ТснаTЕсли же, -О коррекцию прово"б5 717 бАлгебраически суммированный сигналзадатчика 11...