Шубаловский

Номер патента: 446849

Опубликовано: 15.10.1974

Авторы: Ведюшкин, Голлобина, Колмаков, Кравченко, Расин, Шубаловский

МПК: G01R 27/28

Метки: коэффициентов, малых, отражения

...амплитуду отраженного сигнала, соответствующую восходящей ветви этой же кривой и коэффициент отражения определяется по формуле1 Е+ Е20)Е где Ерпм - амплитуда сигнала от ра глощающего материала; Еи Е . плитуды сигнала от калибратора с ственно для нисходящей и восходящей градуировочной кривой.На фиг. 1 приведена функциональная установки, реализующей предлагаемь соб измерения малых коэффициентов о навлили браия от много отраиалов, ициен- асстоя- тветстй кри- Л) дляасоответствующей частоты - = сопз 1, где а - толщина пластины диэлектрического калибратора, Х - длина рабочей волны (на фиг. 2 приведены градуировочные кривые для ДВух ДЛИН ВОЛН Х 1 И Х 2) .Приводят систему калибратор-исследуемый образец материала в возвратно-поступательное...