Способ измерения малых коэффициентов отражения
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(и 1 446849 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советскик СоциалистическихРеспублик АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ б 1) Зависимое от авт. свидет ства 6 01 г 27/2 22) Заявлено 23,04.73 (21) 1910902/26 с присоединением заяв осударственный комит овета Министров ССС(53) УДК 621.317(088.8) ликован по делам изобретений и открытийикования описания 27.0 б.75 Дата 72) Авторыизобретения А. М, Расин, 1 О. П. Колмаков, Л. С,В. А, Шибаловский и Г71) Заявитель олдобина, В, Г. Кравченко,А. Ведюшкин ЗМЕРЕНИЯ МАЛЫХ КОЭффИЦИЕНТОВ ОТРАЖЕН ИЯ) СПО ния; на фи кривые,Высокочастотный сигнал от генератора 1 через направленный ответвитель 2, согласующий трансформатор 3 и симметрирующее устройство 4 поступает в измерительный канал - полосковую линию 5, нагруженную на идеальную поглощающую нагрузку б, В измерительной полосковой линии совершают совместное возвратно-поступательное движение калибратор 7 и исследуемый поглощающий материал 8. Высокочастотный сигнал, отраженный от системы калибратор-исследуемый образец, через направленный ответвитель 2 поступает на индикатор 9. г. 2 показаны градуировочные Предлагаемый способ измерения коэффициентов отражения осуществ следующим образом.В начальный момент измерений уста вают расстояние между пластинами ка тора так, чтобы коэффициент отражен калибратора в целом был заведомо больше предполагаемого коэффициента жения от радиопоглощающих матер Причем установленное значение коэфф та отражения (Г), а следовательно, р ние 1 между пластинами должно соо вовать одной из ветвей калибровочно вой, приведенной на графике (Г) =1(1/ алы яетс пм диопо - ам- ответ- ветвей схема й спо- тражеИзобретение относится к области измерительной техники,Известен способ измерения малых коэффициентов отражения. При возникновении фазомодулированной помехи (например, за счет 5 движущихся частей установки), аналогичной полезному сигналу, происходит искажение отраженного сигнала и соответственно кривой калибратора (в частности, смещение минимума), что приводит к ошибкам в определе нии,коэффициента отражения.С целью устранения влияния фазомодулированной помехи на точность измеряют амплитуду отраженного сигнала, соответствующую нисходящей ветви градуировочной кри вой калибратора, измеряют амплитуду отраженного сигнала, соответствующую восходящей ветви этой же кривой и коэффициент отражения определяется по формуле1 Е+ Е20)Е где Ерпм - амплитуда сигнала от ра глощающего материала; Еи Е . плитуды сигнала от калибратора с ственно для нисходящей и восходящей градуировочной кривой.На фиг. 1 приведена функциональная установки, реализующей предлагаемь соб измерения малых коэффициентов о навлили браия от много отраиалов, ициен- асстоя- тветстй кри- Л) дляасоответствующей частоты - = сопз 1, где а - толщина пластины диэлектрического калибратора, Х - длина рабочей волны (на фиг. 2 приведены градуировочные кривые для ДВух ДЛИН ВОЛН Х 1 И Х 2) .Приводят систему калибратор-исследуемый образец материала в возвратно-поступательное движение и изменением расстояния между калибратором и образцом (д) добиваются минимальной амплитуды колебаний стрелки индикатора. Затем изменением расстояния между пластинами калибратора вновь добиваются минимальной амплитуды колебаний стрелки индикатора. По достижении этого эффекта измеряют расстояние 11 между пластинами калибратора.Аналогичные измерения повторяют при вновь устанавливаемом расстоянии между пластинами калибратора, соответствующем примерно тому же значению коэффициента отражения на соседней ветви той же градуировочной кривой. Вновь изменяя расстояние между калибратором и образцом, добиваются минимума амплитуды колебаний стрелки индикатора. Далее, изменяя расстояние между пластинами калибратора и добившись минимума амплитуды, колебаний, фиксируют новое значение расстояния между пластинами калибратора 1. Пользуясь градуировочными кривыми, калибратора, по полученным значениям 11 и 12 находят модули коэффициентов отражения калибратораГ 1иГ ), что эк вивалентно нахождению амплитуд сигналов, отраженных от калибратора, Еи Е,.Истинное значение коэффициента отражения образца материала определяют как полусум му модулей коэффициентов отражения )Г, иГ когда значения коэффициентов получа.ются на разных ветвях графика; и полуразность Г и Г когда значения коэффициентов получаются на одной ветви градуиро вочной кр ивой. 25где Ерпм - амплитуда сигнала от радиопоглощающего материала;Еи Е - амплитуды сигнала от калибратора соответственно для нисходящей и восходящей ветвей градуировочной кривой,30 Предмет изобретенияСпособ измерения малых коэффициентовотражения, отличающийся тем, что, с 15 целью устранения влияния фазомодулированной помехи на точечность, измеряют амплитуду отраженного сигнала, соответствующую нисходящей ветви градуировочной кривой калибратора, измеряют амплитуду отраженного 20 сигнала, соответствующую восходящей ветвиэтой кривой, и коэффициент отражения определяют по формуле1 Ек ) + ЕиЕп 1=446849 иг 1 оставитель Е. КовалевТехред М. Семенов рчикова едакто Тираж 678митета Совета Министротений и открытийушская наб., д. 4/5 ПодписноеСР ипография, пр. Сапунова, 2 аказ 1067/10 Изд.1208 ЦНИИПИ Государственного к по делам изобр Москва, Ж.35, Р
СмотретьЗаявка
1910902, 23.04.1973
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4421
РАСИН АРКАДИЙ МОТЕЛЕВИЧ, КОЛМАКОВ ЮРИЙ ПЕТРОВИЧ, ГОЛЛОБИНА ЛЮБОВЬ СТЕПАНОВНА, КРАВЧЕНКО ВСЕВОЛОД ГРИГОРЬЕВИЧ, ШУБАЛОВСКИЙ ВАДИМ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ВЕДЮШКИН ГЕРМАН АНАТОЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01R 27/28
Метки: коэффициентов, малых, отражения
Опубликовано: 15.10.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-446849-sposob-izmereniya-malykh-koehfficientov-otrazheniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения малых коэффициентов отражения</a>
Предыдущий патент: Способ сравнения по фазе двух переменных сигналов одинаковой частоты
Следующий патент: Способ градуировки аппаратуры для измерения частичных разрядов
Случайный патент: Средство для чистки твердой поверхности и способ его получения