Придоро

Номер патента: 258462

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Козлов, Перельман, Придоро

МПК: G01R 31/26

Метки: резонансных, частот

...под микроскопом, либо с помощью датчика перемещений. В том и другом случае корпус испытуемого прибора вскрывают для обеспечения 1доступа к исследуемым элементам конструкции и удаляют вязкий наполнитель (если олимеется). Элементы конструкции полупроводникового прибора поочередно размещают вполе зрения микроскопа или в поле датчика, 1Прибор подвергают воздействию вибрацииплавно изменяющейся частоты. При этом путем наблюдения амплитуды колебаний илиамплитуды сигнала, поступающего с датчика,фиксируют увеличение амплитуды колебаний 2в момент резонанса.Недостатками указанных способов являются большая трудоемкость и сложность процесса измерения, обусловленные необходимостью вскрытия корпуса испытуемого прибора 2с обязательным сохранением...