Монтвилло

Номер патента: 1245954

Опубликовано: 23.07.1986

Авторы: Монтвилло, Петров, Полищук

МПК: G01N 19/02

Метки: адгезии, подложке, покрытия

...113035, Москва, Ж в -35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Редактор Н. ЯцолаЗаказ 3991/35 Изобретение относится к методам контроля трибологических характеристик твердых материалов и может быть использовано для оценки качества адгезии покрытия к подложке при изготовлении микросхем.Цель изобретения - повышение производительности контроля адгезии покрытия к подложке.Эта цель достигается тем, что рабочую нагрузку на индентор выбирают равной величине нагрузки, при которой индентор на эталонном покрытии не оставляет разрушающего следа.Предлагаемый способ осуществляют следующим образом.Из партии образцов, представляющих собой покрытия на твердых подложках, выбирают эталонное покрытие, Затем к эталонному...

Номер патента: 945258

Опубликовано: 23.07.1982

Авторы: Ануров, Монтвилло, Федоров

МПК: C25F 3/14

Метки: избирательного, стальных, травления, электрохимического

...в пределах 1,5-2 А/дм . Обратный ток меньшейЯ.величины чем 1,5 А/дм недостаточно1.устраняет окисную пленку. Гсли же его величина больше 2 А/дмто это ведет к нежелательному растворению катодов, Повышение скорости травления сопровождается интенсивным образованием газообразных продуктов анодной реакции, которые адсорбируются на поверхности детали и ухудшают качество ее обработки, Устранение этого вредного фактора достигается введением в раствор в качестве ПАВ лаурилсульфата натрия в количестве 0,1- 0,2 г/л, Иеньшая концентрация лаурилсульфата недопустимо снижает эффект удаления газообразных продуктов с поверхности травления, большая концентрация приводит к образованию продуктов реакции с компонентами электролита, снижающих...

Номер патента: 446751

Опубликовано: 15.10.1974

Авторы: Монтвилло, Сергеев

МПК: G01D 13/04

Метки: шкальное

...внешнего вывода. Второй электрод б расположен параллельно проводящему электроду Ф и может быть выполнен, например, из металла с конфигурациеи поверхности, соответствующей различным типам шкал, причем расстояние между первым и вторым электродами различно для каждой шкалы.Ыежду проводящими электродами Ф б заключено жидкокристаллическое вещество 7. Для фиксации определенного зазора между электродами Ф, б использованы прокладки Ы, выполненные иэ изоляционного материала.Для плавного регулирования геометрических размеров индицируемых элементов. шкалы второй электрод в сечении имеет поверхность в виде фигуры переменного сечения, например, треугольной призмы на фиг.5 - для устройства с линейной шкалой, на фиг.Ф - для устройства с концент...

Номер патента: 240058

Опубликовано: 01.01.1969

Авторы: Грамм, Монтвилло

МПК: G01L 3/22

Метки: адгезии, металлических, тонких

...Предложеннсравнению с ио 1 делении непользована длзию хОжно опО кууме. Для упрощения отр ния их качества пре силу притяжения пласт сатора. Определяют адгезию щим образом. На близком расстоя ческой пленки, нанесе полагают параллельно относительно подложк ткну, ыва пленодлагается и сохранеспользова 1 ього конде. - .н заряже в этом случае след Предмет изобретения нии от тонкой менной на подложкей и строго фики металлическую талли, расируютпласСпособ определения адгезии тонкРх:;.та.ч лических пленок к подложке, основанный наотрыве пленок от подложки, цдкфт 1 ийся ехР, что, с целью упрощения отрыва пленки и сохранения качества пленок, параллельно подложке размещают металлическую пластину и 20 па обкладки конденсатора, образованного...