Клич
Устройство для холодных измерений полупроводникового параметрического усилителя
Номер патента: 390477
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Клич, Никитин, Хаславский
МПК: G01R 29/02
Метки: измерений, параметрического, полупроводникового, усилителя, холодных
...диода ППУ подключена кс входу усилителя 4. К дополнительному плечу направ: е ного отвствителя 2 подключена детекторная секция 3, гыхсдцсй сигнал с которой подасгся на осциллограф 5.При холодных измерениях холостого контура часть мощности сигнала скип-ге 1 ератсра 1, работаощего в диапазоне 1 астот холостого контура, через развязку просачивается в холостой контур исследуемого ППУ 5. Напряжение азтосмсщения, возникающее на параметрическом диоде под воздействием сигнала свин-генератора, подводится ко входу усилителя 4. Выходное напряжение этого усилителя управляет мощностью свип-генератора 1. Система регулировки мощности свип-генератора 1 имеет регулируемую задержку, которая обеспечивается выбором порога срабатывания усилителя 4. В...