Харенжев

Устройство для измерения параметров мдп-структур

Загрузка...

Номер патента: 1638681

Опубликовано: 30.03.1991

Авторы: Стадченко, Титов, Харенжев

МПК: G01R 31/26

Метки: мдп-структур, параметров

...сдвоенного компаратора 16, подключенного выходнойшиной к входу индикатора 18,Иа фиг,2 приняты следующие обозначения: сигнал 19 на выходе генератора1 высокой частоты; сигнал 20 на выходе генератора 4 развертывающегонапряжения; сигнал 21 на выходе блока12 формирования опорного напряжения;сигнал 22 на выходе детектора 8; сигнал 23 на выходе компаратора 3. Устройство для отбора радиационностойких МДП-структур работает следующим образом,Исследуемую МДП-структуру подключают к клеммам 2 и 3 (фиг.1). В исходном состоянии на выходе генератора 4 развертывающего напряженияимеется напряжение Б (фиг.2, сигнал20), при котором МДП-структура находится в режиме обогащения. Высокочастотный сигнал П, снимаемый с выхода генератора 1 высокой...