H01J 9/42 — измерения или испытания в процессе изготовления

Номер патента: 1277821

Опубликовано: 10.06.2000

Авторы: Ворожейкин, Дудкин, Набоков

МПК: H01J 9/42

Метки: долговечности, индивидуальной, приборов, прогнозирования, электровакуумных

1. Способ прогнозирования индивидуальной долговечности электровакуумных приборов путем испытания прибора в рабочем режиме в течение времени, меньшем гарантируемой долговечности прибора, с фиксацией характера изменения прогнозирующего параметра за это время и определения ожидаемой долговечности путем пересечения экстраполяционной зависимости прогнозирующего параметра от времени с границей зоны допустимых значений прогнозирующего параметра, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности и точности прогноза, в качестве прогнозирующего параметра выбирают разность между рабочей температурой катода и температурой, соответствующей переходу тока основного токоприемного электрода из режима...

Номер патента: 1110333

Опубликовано: 10.06.2001

Авторы: Абалдуев, Михайлова, Роговец

МПК: G01R 31/25, H01J 9/42

Метки: индикаторов, катодолюминесцентных, низковольтных, падения, экранах

Способ определения падения напряжения на экранах низковольтных катодолюминесцентных индикаторов, заключающийся в измерении смещения вольт-амперной характеристики, вызываемого прохождением тока, возбуждающего люминесценцию, через экран, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и надежности измерения, а также уменьшения времени измерения, люминесценцию возбуждают в рабочем режиме сегментов с испытуемым люминесцентным покрытием, фиксируют ток, протекающий через экран, переключают напряжение на эталонные высокоэлектродные сегменты, а смещение вольт-амперной характеристики определяют по величине добавочного сопротивления, необходимого для восстановления ранее зафиксированного значения...