Способ прогнозирования индивидуальной долговечности электровакуумных приборов
Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1277821
Авторы: Ворожейкин, Дудкин, Набоков
Описание


2. Способ по п.1, отличающийся тем, что испытательный прогон проводят при температуре ниже рабочей, определяют долговечность при испытательной температуре, а долговечность прибора при рабочей температуре вычисляют по формуле

где Dp - долговечность при рабочей температуре;
Du - долговечность при испытательной температуре;




Tp - рабочая температура, К;
Tи - испытательная температура, К.
Заявка
3870633/21, 04.01.1985
Ворожейкин В. Г, Дудкин В. Н, Набоков Ю. И
МПК / Метки
МПК: H01J 9/42
Метки: долговечности, индивидуальной, приборов, прогнозирования, электровакуумных
Опубликовано: 10.06.2000
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-1277821-sposob-prognozirovaniya-individualnojj-dolgovechnosti-ehlektrovakuumnykh-priborov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ прогнозирования индивидуальной долговечности электровакуумных приборов</a>
Предыдущий патент: Электронно-лучевая коммутаторная лампа
Следующий патент: Литьевая пресс-форма
Случайный патент: Цанговый патрон