G01N 23/05 — с использованием нейтронов

Номер патента: 198024

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Жарков

МПК: G01N 23/05

Метки: выявления, дефектов, мдиографический

...в поток быстрых нейтронов, прошед тролируемое изделие, регистрируют мощи активирующегося под воздейс дающих нейтронов регистрирующегПредлагаемый радиографический отличается от известных тем, что рующий экран изготавляют из м сечение активации которого имеет области, соответствующей высоким нейтронов, и используют защитные установленные перед рггистрирующ ном и изготовленные из материало щающих резонансные и тепловые бы выявтом, что ших конпри потвием поо экрана,способрегистрнатериала,порог вэнергиямэкраны, им экрав, поглонейтроны. Для регистрации изобракения предлагает. ся использовать пороговые детекторы, активирующиеся под действием быстрых нейтронов, например регистрирующие экраны из меди. По степени активации различных...

Номер патента: 199476

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Казменко, Кочерыгин, Научно

МПК: B25J 11/00, G01N 23/05

Метки: высокоактивныхобразцов, дефектоскопии

...экрану, Привод 23 фотографирующего устройства предназначен для подачи последнего вплотную к контейнеру. Каретка 21 снабжена захватом 24, который взаимодействует с упором 25, расположенным неподвижно в фотографирующем устройстве.Все манипуляции по управлению установкой во время исследований осуществляются с пульта управления (на чертеже не показан),Установка работает следующим образом, Рабочий контейнер ставят в вертикальное положение, открывают загрузочное отверстие, исследуемый образец загружают в траверсу и закрывают защитную пробку. Затем контецнер устанавливают в горизонтальное полокение над вертикальным каналом реактора. С пульта механизму протяжки траверсы задают определенную скорость перемещения траверсы, а также...

Номер патента: 563057

Опубликовано: 23.04.1981

Авторы: Барышев, Горбатюк, Гума, Кадисов, Миллер, Шимелевич

МПК: G01N 23/05

Метки: состававещества, элементарного

...и не больше двух расстояний между источником нейтронов и детектором-излучения.В предлагаемом устройстве образец расположен непосредственно вблизи детектора,что обеспечивает макси мальный сбор"квантов радиационного захвата на детектор, а детектор с образцом удалены от источника,помещенного в замедлитвль, на расстояние, необходимое для надежной Защиты 20 детектора от прямого излучения источника.Благодаря диффузионному отражению нейтронов от стенок замедлителяотражателя и отсутствию поглощения тепловых нейтронов в полости имеется равномерное распределение поля тепловых нейтронов с одинаковой плотностью как в области расположения замедлителя с источником, так и в области расположения образца, При соблюдении оптимальных размеров...

Номер патента: 1363038

Опубликовано: 30.12.1987

Автор: Тетерев

МПК: G01N 23/05

Метки: дефектоскопии, нейтронографической

...вместе с исследуемым объектомна 1-2 ч помещают в изотропное поленейтронов в какой-либо замедлитель.Затем набор извлекают и вынимают изнего активационные экраны, Между экранами в тесном контакте помешаютслой ядерной фотоэмульсии, нанесеннойна тонкую пленку, и экспозиция продолжается 1-2 ч. Затем пленку проявляют и рассматривают.Фильтром 2 поглощаются нейтроныв определенном интервале их энергий.За выделенный энергетический интервалпринимают область энергий нейтронов,плотность потока в котором уменьшенафильтром не менее чем в 20 раз. Дляиндиевого фильтра 2 это составляет1,7 эВЕ 1,25 эВ (Е =1,7. эВ) . Нейтроны, рассеянные на ядрах железа, немогут потерять такую величину энергии, чтобы активировать индиевый экран с энергией резонанса...

Номер патента: 1684640

Опубликовано: 15.10.1991

Авторы: Артемьев, Бабикова, Поморина

МПК: G01N 23/05

Метки: жидкостях, магнитных, размера, частиц

...слоем кадмия с отверстием 5 мм. Такая геометрия позволяет исключить возможность рассеивания нейтронов от образца под углами большими, чем угол захвата детектора, а следовательно, существенную ошибку в расчетах эксперимента. Образец помещался в термостат, позволяющий плавно изменять температуру в процессе измерений от 78 до 500 К,Пучок поляризованных монохроматических нейтронов, прошедших сквозь образец, попадал на кристалл-анализатор, с помощью которого определяли степень дополяризации пучка нейтронов. Используяизвестные из литературы данные для 1- =4,7 10 зрг/см; В = 4520 Тл; чн = 6,3" " 10 см/с, г, = 7,0 10, определяли радиус частиц по формуле2 а К Ч 5- = то ехр, (1)чн КБ Т)где В - радиус 1-й частицы;хо - постоянная времени...

Номер патента: 1331249

Опубликовано: 10.08.2004

Авторы: Володина, Гришин, Тюфяков

МПК: G01N 23/05

Метки: нейтронографического

1. Способ нейтронографического контроля изделий, включающий введение в изделие контрастирующего вещества, пропускание через изделие потока нейтронов, регистрацию прошедшего изделие потока радиографическим детектором, анализ полученного изображения, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и надежности контроля поверхностных дефектов, введение контрастирующего вещества осуществляют контактированием предварительно очищенной поверхности изделия с молекулярным или ионным раствором вещества в жидкостях из группы, содержащей воду, спирт, ацетон и тетрагидрофуран, а перед пропусканием через изделие потока нейтронов удаляют с его поверхности остатки раствора и испаряют основу...