G01N 21/32 — G01N 21/32
Пенетрант для капиллярной дефектоскопии
Номер патента: 714251
Опубликовано: 05.02.1980
Автор: Хургин
МПК: G01N 21/32
Метки: дефектоскопии, капиллярной, пенетрант
...с меньшей контрастностьюи с несколько большей сложностью распознавании характера дефекта,Все предложенные значения верхнихи нижних пределов содержания ингредиентов пенетранта обеспечивают полное удаление его с поверхности детали водойпосле подсыхания в течение суммы мак:симально необходимого времени пропитки(10 мин) и времени максимальной задержки промывки воцой после пропитки(5 мин) при среднем уровне выявляемости дефектов, нетоксичности и технологичности,Пенетрант для капиллярной пефектоскопии, содержащий индикатор, эмульгатори этиловый спирт, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения технологичности контроля, в него введен глицерин, в качестве индикатора использован эозин, а все компоненты взяты в следующем...
Сканирующий оптический дефектоскоп для контроля поверхности проката
Номер патента: 741117
Опубликовано: 15.06.1980
Автор: Денищик
МПК: G01N 21/32
Метки: дефектоскоп, оптический, поверхности, проката, сканирующий
...перпендикулярно к линии сканирования, не пересекают контролируемую поверхность. В этом случае Фотоприемник, источник света и вращаю 15 щееся зеркало расположены эа пределами проката на малой высоте, гдетепловое воздействие незначительно,а виброустойчивость этих устройствобеспечить легче,2 О Для получения высокой точностипри определении координат дефектоввдоль линии сканирования ширина внаправлении линии сканирования всехщелей плоского зеркала, кроме крайних25 одинакова и равна диаметру пучкасвета источника в плоскости рабочейповерхности этого зеркала. Ширинадвух крайних щелей, расположенныхза пределами контролируемой поверх,Зо ности, отличается от ширины щелей,расположенных между ними, а ширинапромежутков между всеми щелями...
Установка для неразрушающего контроля изделий
Номер патента: 746258
Опубликовано: 05.07.1980
Авторы: Баранов, Березовский, Гржехник-Жуковский, Громов, Потапов, Щербань
МПК: G01N 21/32
Метки: неразрушающего
...46, диска 47 с переменной оптическойплотностью, блока 48 управления двигателем,блока 49 измерения параметров дефектов,цифропечатающего устройства 50, счетчиков51 и 52 и цифровых индикаторов 53 и 54.Позициями 55 и 56 (см, фиг, 2) обозна.чены соответственно второй и третий валы.Установка работает следующим образом.При контроле объекта на сканирующей системе 2 полезный сигнал от излучательно-при.емного тракта поступает на блок 8 измеренияпараметров дефектов н затем - на цнфропе. чатающее устройство 6. Параллельно на цифро. печатающее устройство 6 поступают сигналы от блока 3 координатной привязки. С редуктором 11 жестко связана система координатной прн. вязки 1, состоящей из оптоэлектронных пар 15 и 16, разделенных координатными дисками 12...
Устройство для контроля поверхности фильмовых материалов
Номер патента: 748202
Опубликовано: 15.07.1980
Авторы: Лебедь, Сирота, Чудновский
МПК: G01N 21/32
Метки: поверхности, фильмовых
...плоскости с направлением (лучом) сканирования тольколишь в одной точке - в середине читающего штриха. Во всех остальныхточках (элементах) имеет место отличный от нуля угол между этими направлениями, увеличивающийся для периферийных элементов контролируемогоучастка, яркость которых по этойпричине уменьшается по мере их удаления от середины штриха.Целью изобретения является повышение эффективности устройства путемравномерной засветки всей шириныконтролируемой поверхности. Цель достигается тем, что в предлагаемое устройство введено цилиндрическое вогнутое зеркало, установленное по оси отраженного световогопучка и образующее с плоским зерка лом острый угол.На чертеже показаны осветитель 1, создающий точечное световое пятно на контролируемом...
Фотоэлектрическое устройство дляобнаружения дефектов
Номер патента: 842506
Опубликовано: 30.06.1981
МПК: G01N 21/32
Метки: дефектов, дляобнаружения, фотоэлектрическое
...отражателя,и амплитудой, зависящей от величины прогиба материала, Эта паразитнаясоставляющая уменьшает надежностьконтроля качества материалов.Цель изобретения. - повышение надежности контроля качества гибкихленточных материалов, принимающихцилиндрическую форму,Поставленная цель достигаетсятем, что в фотоэлектрическом устройстве для обнаружения дефектов отражающий торец вращающегося отражателявыполнен в виде правильной четырехгранной пирамиды.На Фиг.1 схематически изображенопредлагаемое устройство; на Фиг.2разрез А-А на фиг.1.Фотоэлектрическое устройство дляобнаружения дефектов содержит источник 1 света, призму 2, вращающийсяотражатель 3 в видеправильной четырехгранной пирамиды, неподвижныйотражатель 4, выполненный в виде(Риг Я...
Устройство для обнаружения пороков нитей
Номер патента: 896520
Опубликовано: 07.01.1982
Авторы: Корпенко, Первухин, Чиликин
МПК: G01N 21/32
Метки: нитей, обнаружения, пороков
...чертеже представлена структурная схема устройства для обнаруженияпороков нитей,Устройство состоит из последовтельно соединенных первичного опт896520 Формула изобретения ВНИИПИ Заказ 11688/32 Ти аж 882 Подписное РФилиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,электронного преобразователя 1, уси"лителя 2, дискриминатора 3, формирователя 4, ключа 5, логической схемы6 НЕ, логической схемы 7 И, и счетчика 8, второй вход логической схемы 7 И подключен к выходу формирователя 4, а второй выход ключа 5 предназначен для подключения к схемеуправления механизмом перемещениянити. Устройство работает следующим образом.Контролируемая нить перемещается через первичный оптико-электронный 15 преобразователь 1, который при наличии в ней порока...