Патенты с меткой «дляобнаружения»

Номер патента: 842506

Опубликовано: 30.06.1981

Авторы: Гребнев, Мавлютов

МПК: G01N 21/32

Метки: дефектов, дляобнаружения, фотоэлектрическое

...отражателя,и амплитудой, зависящей от величины прогиба материала, Эта паразитнаясоставляющая уменьшает надежностьконтроля качества материалов.Цель изобретения. - повышение надежности контроля качества гибкихленточных материалов, принимающихцилиндрическую форму,Поставленная цель достигаетсятем, что в фотоэлектрическом устройстве для обнаружения дефектов отражающий торец вращающегося отражателявыполнен в виде правильной четырехгранной пирамиды.На Фиг.1 схематически изображенопредлагаемое устройство; на Фиг.2разрез А-А на фиг.1.Фотоэлектрическое устройство дляобнаружения дефектов содержит источник 1 света, призму 2, вращающийсяотражатель 3 в видеправильной четырехгранной пирамиды, неподвижныйотражатель 4, выполненный в виде(Риг Я...

Номер патента: 842513

Опубликовано: 30.06.1981

Автор: Гребнев

МПК: G01N 21/89

Метки: гибкого, дефектов, дляобнаружения, поверхностидвижущегося, фотоэлектрическое

...вращающегося вокруг оси цилиндрического корпуса, при этом Фотоэлектрический приемник размещен на этойже оси в месте ее пересечения с лучом, зеркально отраженным от поверх-20ности движущегося гибкого материала.При этом для стабилизации Формымягкого гибкого материала при движении узел формирования содержит внутреннюю полость пониженного давления,концентрично расположенную с цилиндрическим корпусом и соединенную сним через отверстия,На фиг. 1 дана принципиальная схема предлагаемого устройства; наЗОфиг. 2 - разрез А-А на Фиг.1.Устройство содержит источник 1излучения, узел сканирования, выполненный в виде зеркала 2, контролируемый материал 3, узел формирования в виде цилиндрического корпуса4, Фотоэлектрический приемник 5,внутренняя...