G01B 11/28 — для измерения площадей

Номер патента: 1654650

Опубликовано: 07.06.1991

Авторы: Волков, Григорьев, Панченко

МПК: G01B 11/28

Метки: вакуумный, дефектоскоп, непроклеев, обнаружения

...дефектов, в том числе дефектов малой площади, При диаметре чаши, равном О, может быть обнаружен дефект значительно меньших в Ч п 1 раэ размеров за счет увеличения количества (щ) светоприемников в полости чаши. 1 ил,ствующим светоиндикатором на поле световой панели 5. Пластина 2 размещена вблизи выходного отверстия так, что между пластиной и контролируемой поверхностью обра- Л зуется зазор, подсвечиваемый источниками Ь 4 света, 0 лДефектоскоп работает следующим об- Ц 1 разом. ОУстановив корпус отверстием на контролируемую клееную поверхность и включив вакуум, наблюдают за показаниями светового индикатора. Если дефекты отсутствуют и клееная поверхность не отстает от конструкции детали, на световой панели индикаторы не светятся, Если...

Номер патента: 1677515

Опубликовано: 15.09.1991

Автор: Баранов

МПК: G01B 11/28

Метки: плоских, площади, фигур

...выходного сигнала устройства от площади печатающихэлементов на измеряемом участке печатнойформы. Как видно из графика, эта зависимость не линейная, но прямая, т.е, одномузначению выходного сигнала соответствует 15только одно значение площади печатающихэлементов. Для устранения указанной нелинейности устройство предварительно градуируется следующим образом.С помощью эталонных печатных форм 20снимается таблица практической зависимости между уровнем выходного сигнала устройства и известной площадью печатающихэлементов, Эта таблица помещается, например, в постоянную память блока управления устройства(не показано), В реальнойработе каждому считанному значению выходного сигнала устройства выбирается из постоянной памяти блока...

Номер патента: 1703967

Опубликовано: 07.01.1992

Авторы: Галанов, Коган, Курылева, Островская, Щипунов

МПК: G01B 11/28

Метки: абразива, качественного, металлических, механической, поверхностях, после, частиц

...частиц абразива, исследование структуры металлической поверхности производят в поляризованном свете, поворачивают исследуемую поверхность относительно оси, перпендикулярной к ней, на углы 30, 45 и 60 О, подсчитывают среднее число А 1 наблюдаемых светящихся частиц при повороте исследуемой поверхности на угол 45 О, а количественное определение частиц абразива производят по разности полученных чисел.На чертеже изображена схема, поясняющая способ и показывающая изменение оптических свойств поверхности и загрязнений при повороте на 0 - 90 О.Исследования показали, что применение поляризованного света позволяет адекметаллической поверхности по характеру их окраски и свечения, В процессе исследования установлено, что наиболее...