Чтеяню

Номер патента: 284414

Опубликовано: 01.01.1970

Авторы: Гольдин, Павленко, Специальное, Тальрозе, Чтеяню

МПК: B01D 59/44, G01N 27/62

Метки: анализа, масс-спектральиого

...электроннуо развертку и откроем источник ионов. С этого момента начнется процесс накопления зарядов на поверхности диэлектрической мишени. По истечении 15 времени Т (время накопленя) картина распределения зарядов гг и, соответственно, потенциалов г.гвдоль поверхности мишени примет вид, показанный Иа графике а. Закроем теперь ионный источник и включим элек тронную развертку так, чтобы электронный луч начал пробегать мишень от участка с координатой Хо в положительном направлении Х.Рассмотрим токи в цепи коллектора электронов-г 1(см.фиг, 2, б) и в цепи сигнальной 25 пластины г 1 см. фиг. 2, в). Во время прохождения лучом участка 1 - 1 мишени (см. фиг. 2,а), имеющего равновесный потенциал, перезарядки элементарных емкостей мишени не...