Бумай
Способ определения профиля подвижности носителей заряда в полупроводниковых слоях
Номер патента: 1775753
Опубликовано: 15.11.1992
Авторы: Бумай, Вилькоцкий, Доманевский, Нечаев, Шлопак
МПК: H01L 21/66
Метки: заряда, носителей, подвижности, полупроводниковых, профиля, слоях
...проводимости такой системы от напряжения смещения, При измерениях постоянноенапряжение на ртутные электроды подается таким образом, чтобы центральный барь. ер был смещен в обратном направлении. Врезультате этого под ним увеличиваетсятолщина обедненного слоя, а следовательно уменьшается емкость барьера Шоттки ислоевая проводимость области полупроводника подбарьером. Импеданс цепи, образованной кольцевым барьером, смещенным впрямом направлении и областью полупроводника, находящейся между барьерами,практически не зависит от величины подаваемого напряжения. Таким образом, видзависимостей емкости и активной составляющей проводимости от напряжения смещения будет определяться профилямираспределения концентрации и подвижности носителей заряда в...