Патенты с меткой «текзометрических»
Стенд для исследования текзометрических характеристик тензорезисторов
Номер патента: 442364
Опубликовано: 05.09.1974
Авторы: Веселый, Кравченко, Тарасова, Хмельницкий
МПК: G01B 7/16
Метки: исследования, стенд, текзометрических, тензорезисторов, характеристик
...5, штока б через сдвоенный шаровой шарнир 7.Требуемый прогиб балки задается и конт ролируется с помощью прогибомера 9, содержащего кассету 11 с концевыми мерами 12 длины, размещенными одна за другой в порядке возрастания размеров. Кассета перемещается по направляющим 13, которые 25 расположены поперек градупровочной балки8. Очередная концевая мера 12 устанавливается на три опоры 14, например полусферы, прикрепленные к верхней плоскости балки и находящиеся в вершинах равносторон- ЗО него треугольника, а центр описанной вокругнего окружности расположен в точке пересечения продольной и поперечной осей балки. Размер каждой концевой меры соответствует определенной задаваемой деформации градуировочной балки.Нагружение градуировочной...